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IEC 68-2-1 Tests A：冷 (Cold) IEC 68-2-1A Amendment 1.简介 本试验法同时适用于会生热(Heat-dissipating)及不会生热 (Non heat-dissipating)之试件，并依试验方法之不同可区分为 温度骤变(Sudden change of temperature)及温度渐变(Gradual change of temperature)两种。本试验法主要目的在于决定组件 、装备或其它试件在低温环境下操作与储存之能力，但并不适用 于评估试件在温度改变过程中，可能产生之影响，若欲评估此种 情况，请参考IEC 68-2-14 Test N：温度变化。本试验法中之 温度骤变试验在采用之前，必须先确定此温度变化不会对试件产 生影响。 2.一般描述 将试件于室温条件下置入柜内，对于温度骤变试验，须先将 柜温降至相关规范所规定之温度值，再将试件置入；对于温度渐 变试验则先将试件置入温柜，再将柜温由室温条件降至相关规范 所规定之温度值。试件俟温度达稳定后，再依规定之驻留时间加 以保温。 对于不会生热之试件一般以非操作之状况执行试验，此时强 制空气对流之方式可适用于此类试验。对于会生热之试件则不宜 使用强制空气对流之方式，除非柜内温度无法达到所要求之温度 条件。 3.严厉度（IEC 68-2-1 Tests A：冷） 温度(℃) -65, -55, -40, -25, -10, -5, +5 驻留时间(小时) 2, 16, 72, 96 IEC 68-2-2 Tests B：热 (Heat) IEC 68-2-2A Amendment 1.简介 本试验法同时适用于会生热(Heat-dissipating)及不会生热 (Non heat-dissipating)之试件，并依试验方法不同可区分为温 度骤变 (Sudden change of temperature) 及温度渐变(Gradual change of temperature)两种。本试验法主要目的在于决定组件 、装备或其它试件在高温环境下操作与储存之能力，但并不适用 于评估试件在温度改变过程中，可能产生之影响，若欲评估此种 情况，请参考IEC 68-2-14 Test N：温度变化。本试验法中之 温度骤变试验在采用之前，必须先确定此温度变化不会对试件产 生影响。 2.一般描述 将试件于室温条件下置入柜内，对于温度骤变试验，须先将 柜温降至相关规范所规定之温度值，再将试件置入；对于温度渐 变试验则先将试件置入温柜，再将柜温由室温条件降至相关规范 所规定之温度值。试件俟温度达稳定后，再依规定之驻留时间加 以保温。 对于不会生热之试件一般以非操作之状况执行试验，此时强 制空气对流之方式可适用于此类试验。对于会生热之试件则不宜 使用强制空气对流之方式，除非柜内温度无法达到所要求之温度 条件。 3.严厉度 温 度 +200, +175, +155, +125, 100, +85, (℃) +70, +55, +40, +30 驻留时间(小时) 2, 16, 72, 96 IEC 68-2-3 Test Ca：稳态湿、热 (Damp Heat, Steady state) 1.简介 本试验之目的在于决定组件、装备或其它电工产品在高相对 湿度环境下储存及操作的适应性。 本试验之目的在了解常温、高湿环境驻留期间，对试件产生 之效应。 2.一般描述 将试件置于温度40℃，相对湿度93％之环境下，执行稳态湿 、热试验。 3.严厉度 驻留时间可选择：4天，10天，21天，56天。 IEC 68-2-5 Test Sa：太阳辐射 (So