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X射线与荧光光谱

§7.3 X射线多晶衍射法;7.3.2粉末衍射图的获得;2、衍射仪法;7.3.3粉末衍射的应用;2、衍射图的指标化;3、晶粒大小的测定;§7.4 电子衍射法简介;7.4.1 电子衍射法与X射线衍射法比较;7.4.2 电子衍射法测定气体分子的几何结构;例如: 用40000V的电子射线得到CS2蒸气的衍射图,其中强度最大的衍射角分别是2.63o、4.86o、7.08o。已知CS2是对称的直线分子,求C-S键长。;7.4.3 低能电子衍射法在表面分析中的应用;§7.5 X射线荧光光谱分析;Mo(Z=42):(特征波长?和相对强度 I ) K?1(0.0709nm) 100 ;L?1(0.5406nm) 100; K?2(0.0713nm) 50 ;L?2(0.5414nm) 12; K?1(0.0632nm) 14; L?1(0.5176nm) 50。;2、定量分析;[2]不均匀效应: 对于多相合金、粉末等不均匀材料,X射线荧光强度与颗粒大小有关,颗粒大吸收大,颗粒小荧光强。;(2) 定量分析方法;3、应用;7.5.2 X射线荧光光谱仪;(1)X射线发生器;(2)分光???统;(3)检测器;[2]闪烁计数器: 它由闪烁晶体和光电倍增管组成。当X射线穿过铍窗进入闪烁晶体时,闪烁晶体吸收X射线并放出一定数量的可见光电子,再由光电倍增管检测,转换成电脉冲信号。脉冲高度与入射X射线光子能量成正比。;(4)记录系统;2、能量色散型X射线荧光光谱仪;波长色散型

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