高压功率快恢复二极管的寿命控制研究 lifetime control of power fast recovery diode.pdfVIP

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2017-08-21 发布于上海
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高压功率快恢复二极管的寿命控制研究 lifetime control of power fast recovery diode.pdf

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高压功率快恢复二极管的寿命控制研究 lifetime control of power fast recovery diode

第28卷第1期固体电子学研究与进展 V01．28，No．1 2008年3月 OFSSE Mar．，2008 RESEARCHPROGRESS 高压功率快恢复二极管的寿命控制研究谢书珊胡冬青’ 亢宝位 (北京工业大学电子信息与控制工程学院，北京，100022) 2006—03—06收稿．2006—05-15收改稿摘要；利用质子辐照感生的空位缺陷对铂原子的汲取作用，获得了局域寿命控制，辅以能量为4MeV电子辐照整体寿命控制技术，在具有低阳极发射效率结构的高压功率快恢复二极管中实现了更好的综合性能的优化。测试结果表明，此类快恢复二极管具有反向恢复时问短，软度大、反向漏电低的优良特性，在国际上处于领先水平。关键词：局域寿命控制；反向恢复时间i软度；反向漏电流；电子辐照中图分类号：TN313+．7文献标识码：A 文章编号：1000—3819(2008)01—020—05 Lifetime of Fast Diode ControlPowerRecovery XIEShushanHU KANGBaowei Dongqing ofElectronic＆Control of (College Engineering，BeqingUniversity Abstract：Locallifetimecontrolisobtainedmeansof10caI by platinumdopingusingplatinum the defectsinduced irradiation．AssistedbytotaIlifetime getteringthroughvacancy byproton control 4MeVelectronirradiation，afastsoft diodeismanufactured．The using recoverypower of fast resultsshowthatthiskinddiodehave reverse reverse experiment recoverytime，large softnessandlowreverse ofsuchdiodeison of performance top products． leakage．The congener words：Locallifetimecontrol；reversetime；softness；reverse Key recovery leakage； irradiation — electron EEACC：2560H 时间，就要降低确。二极管的软度也与rH密切相关。 1 引言利用电荷分析近似，二极管