平面零件加工及检测.docVIP

武 汉 职 业 技 术 学 院 实训报告 平面零件加工及检测 要 1.掌握平面零件上盘工艺，了解平面零件面形、平行度检测设备及手段。 2.能编制平行平板加工的工艺卡片并完成加工及检测，会整理基本技术文件资料，清理工作场地。 光学平面零件是指由光学平面作为工作面的光学零件。它包括平晶、平行平板、平面反射镜、光楔、滤光片及棱镜等。由两个互相平行的光学平面构成的玻璃光学零件统称为平行平板。 把平面从一般的球面加工中分列出来，是由于平面加工具有特殊性，在国家标准光学制图(GBl3323-91)中规定，透镜的表面为平面时，应标注R(，众所周知，(为数学术语，实际上，任何实际的平面都是曲率半径极大的球面，所以在平面的形状误差中有球面度的指标。 任务实施 上1．刚性上盘 ．光胶上盘平面精磨的目的 1.平面抛光的目的 2. 影响抛光质量的工艺因素 零零件盘在下 光圈况 低 高 低 希望光圈变化趋势 低变高变低 由低变高 高变低 抛光趋势 多抛边缘 多抛中部 多抛边缘 多抛摆幅 加大 减小 减小 加大 铁笔位置 拉出来 放中心 放中心 拉出来 主轴转速 加快 放慢 加快 放慢 摆速 放慢 加快 放慢 加快 压力 略加重 宜轻 加重 宜轻 （2–1） （2–2） 式中：D为干涉仪上判读光圈数N(，所对应的直径；为被检零件直径。 如果使用的干涉仪不是以汞为光源，而使用激光光源，则测得的光圈数，按照国际标准IS010110-5，还需做如下校正： （2–3） 式中：(1 是激光干涉仪使用的激光波长；N(1是激光干涉仪测得的光圈数；(2=546.07nm； N(2是转化为汞的e线波长的光圈数。 平行度的检验 (2–5) 面分划板上双十字像的距离，为自准直物镜的焦距。因此，分划板的刻度，按照刻制，从中可以读出K值，已知平板的制造材料，即很容易测得平板的平行度。 平板角的方向，应在双十字像连线的方向，双十字像一弱一强，弱十字像所处的方向，则为平板的厚端。 由于自准测角仪的光源一般使用仪器专用的白炽灯泡，因此测试平板平行差时，平板的折射率用即可。 测试高精度的平板平行差，一般使用图2—12所示的斐索干涉仪，此时需要调整仪器，在被检平板的上下两表面产生分振幅的等厚干涉条纹，以测定条纹的间距来获得平板的角，其关系式为 (2–6)式中：为平板折射率；为斐索干涉仪光源波长，一般使用汞灯为光源时，(=546．07nm， 此时平板折射率严格地说，应选，选择产生误差很小，也是可以的。 平板角的方向，应当垂直于干涉条纹的方向，用手指在此方向触摸，条纹会因玻璃热膨胀而局部变形，直条纹会凸向平板的薄端． 晶体光学零件加工特点 因此，晶体光学零件在加工中采取的某些操作方法与一般光学玻璃零件不完全相同，甚至完全不相同。一般来说，晶体光学零件加工具有下列一些特点。 晶体定向 大多数晶体结构上呈各向异性，要产生双折射。晶体内仅有一个方向不发生双折射，此方向称为光轴方向，这类晶体称单轴晶体，晶体光学零件多为单轴晶体加工而成。并且这些零件在使用过程中，其通光面与晶轴必须保持预定的角度，因此，单轴晶体加工前必须找正晶轴，磨出一个与晶轴垂直的表面作为加工基准面，工艺上称此为晶体的定向。 选择合适的切割与粗磨方法 晶体具有解理性，致使不少晶体容易脆裂，而切割、粗磨两道工序对被加工材料要产生较剧烈的机械碎裂作用，因此必须慎重选择与加工一般光学玻璃不同的切割与粗磨方法。 要采用一些特殊的上盘方法 不少晶体由于热膨胀系数的各向异性，不能承受较高的粘结温度，甚至根本不能受热，潮解晶体更不能受潮。因此，常用的光学玻璃零件热胶上盘与石膏上盘等方法往往不能用于晶体零件。必须针对不同材料采用一些特殊的上盘方法。 磨料与抛光粉根据晶体硬度而异 与玻璃不同，晶体的硬度变化很大，不同硬度的晶体应选用不同硬度的磨料与抛光粉，才能得到良好的加工效果。比玻璃硬的晶体常选用石英粉、玛瑙粉、金刚石粉等作抛光粉；比玻璃软的晶体常选用氧化铁、氧化铬、氧化钛、氧化锡和氧化镁等作抛光粉。 图2-42 波片的生产流程 选料 用石英晶体加工波片前首先要确定材料内部所含的各种缺陷，以便鉴定其是否能用或便于切割出优质的部分，对于带有节瘤、气泡和裂隙等缺陷的晶体都不能用做光学材料。检验的方法可以与玻璃相同。对石英晶体来说，可以把它浸入甲基水杨酸，由于二者折射率很相近，所以在石英内部