一种全偏振参数的显微测量系统 a microscope measurement system of cellular mueller matrix.pdfVIP

第 37 卷第 12 期 光电工程 Vol.37, No.12 2010 年 12 月 Opto-Electronic Engineering Dec, 2010 文章编号：1003-501X(2010)12-0041-05 一种全偏振参数的显微测量系统 李宇波，李世博，陈伟坚，曾宇骁，杨建义 ( 浙江大学 微电子与光电子研究所，杭州 310027 ) 摘要：本文设计了一种用于 Mueller 矩阵测量的全偏振参数显微镜测量系统。该测量系统以液晶调制器键合于偏 振分束棱镜表面的模块为核心器件，实现了以 10 次光强获取为周期的 Mueller 矩阵参数测量功能，能够方便地实 现 Mueller 矩阵中全部参数图像的实时测量，比前人设计系统的测量效率有很大提高。基于该系统，本文进行了 Mueller 矩阵快速调