NaI(TI)闪烁谱仪系列实验分析.docx

NaI(TI)闪烁谱仪实验一、引言闪烁探测器是利用某些物质在射线作用下受激发光的特性来探测射线的仪器。它们的主要优点是：既能探测各种带电粒子，又能探测中性粒子；既能测量粒子强度，又能测量粒子能量；且探测效率高，分辨时间短。它在核物理研究和放射性同位素测量中得到广泛的应用。本实验目的是了解NaI(TI)闪烁谱仪的原理、特性与结构，掌握NaI(TI)闪烁谱仪的使用方法和—射线能谱的刻度，学会NaI(TI)闪烁谱仪的应用。二、实验原理1、射线与物质的相互作用射线与物质的相互作用主要是光电效应、康普顿散射和正、负电子对产生三种过程。（1）光电效应：入射粒子把能量全部转移给原子中的束缚电子，而把束缚电子打出来形成光电子。由于束缚电子的电离能一般远小于入射射线能量，所以光电子的动能近似等于入射射线的能量（2）康普顿散射：核外电子与入射射线发生康普顿散射示意如图。设入射光子能量为，散射光子能量为，则反冲康普顿电子的动能康普顿散射后散射光子能量与散射角的关系为为入射射线能量与电子静止质量之比。由上式可得，当时，。这时，即不发生散射；当时，散射光子能量最小，它等于，这时康普顿电子的能量最大，为所以康普顿电子能量在0至之间变化。（3）正、负电子对产生：当射线能量超过时，光子受原子核或电子的库伦场的作用可能转化成正、负电子对。入射射线的能量越大，产生正、负电子对的几率也越大。在物质中正电子的寿命是很短的，当它在物质中消耗尽自己的动能，便同物质原子中的轨道电子发生湮没反应而变成一对能量各位0.511MeV的光子。2、核衰变的统计规律在重复的放射性测量中，即使保持完全相同的实验条件（例如放射源的半衰期足够长，在实验时间内可以认为其活度基本上没有变化；源与探测器的相对位置始终保持不变；每次测量时间不变；测量仪器足够精确，不会产生其他的附加误差等），每次的测量结果并不完全相同，而是围绕着其平均值上下涨落，有时甚至有较大的差别。这种现象就叫做放射性计数的统计性。放射性计数的这种统计性反映了放射性原子核衰变本身固有的特性，与使用的测量仪器及技术无关。放射性原子核衰变的统计分布可以根据数理统计分布的理论来推导。放射性原子核衰变的过程是一个相互独立彼此无关的过程，即每一个原子核的衰变是完全独立的，和别的原子核是否衰变没有关系，而且哪一个原子核先衰变，哪一个原子核后衰变也是纯属偶然的，并无一定的次序，因此放射性原子核的衰变可以看成是一种伯努里实验问题。设在t=0时，放射性原子核的总数是，在t时间内将有一部分核发生了衰变。已知任何一个核在t时间内衰变的概率为，不衰变的概率为。是该放射性原子核的衰变常数。利用二项式分布可以得到在时间内有个核发生衰变的概率为在时间内，衰变掉的粒子平均数为其相应的均方根差为假如，即时间远比半衰期小，这时可以简化为总是一个很大的数目，而且如果满足，则二项式分布可以简化为泊松分布，因为在二项式分布中，不小于100，而且p不大于0.01的情况下，泊松分布能很好的近似于二项式分布，此时在泊松分布中，n的取值范围为所有的正整数（0,1,2,3……），并且在n=m附近时，p(n)有一极大值；当m较小时，分布是不对称的；m较大时，分布渐趋近于对称。当时，泊松分布一般就可用正态（高斯）分布来代替：式中，是在处的概率密度值。由上式可以看出，正态分布决定于平均值M及均方根差这两个参数，它对称于N=M，见图。对于，,这种分布成为标准正态分布。一般的概率统计书上给出的正态分布数值表都是对应于标准正态分布的。计数值处于内的概率为为了计算方便，需作如下的变量置换（称标准化），令则而称为正态分布概率积分。如果我们对某一放射源进行多次重复测量，得到一组数据，其平均值为，那么计数值落在（即范围内的概率为用变量来置换之，并查表，上式即为这就是说，在某实验条件下进行单次测量，如果计数值为（来自一个正态分布总体），那么我们可以说落在，范围内的概率为68.3%；或者反过来说，在范围内包含真值的概率是68.3%。实质上，从正态分布的特点来看，由于出现概率较大的计数值与平均值的偏差较小，可以用来代替，对于单次测量值，可以近似地说，在范围内包含真值的概率是68.3%，这样用单次测量值就大体上确定了真值所在的范围，这种由于放射性衰变的统计性而引起的误差，叫做统计误差。放射性统计涨落服从于正态分布，所以用均方根差（也称标准偏差）来表示。当采用标准偏差表示表示放射性的单次测量值时，则可以表示为。用数理统计的术语来说，将68.3%称为“置信概率”（或者叫做“置信度”），相应的“置信区间”即，当置信区间为，时，相应的置信概率分别为95.5%和99.7%。3、闪烁谱仪结构与工作原理NaI(TI)闪烁谱仪结构如图所示。整个仪器由探头（包括闪烁体、光电倍增管、射极跟随器），高压电源，线性放大器、多道脉冲