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电感耦合等离子体原子发射光谱分析2

5.1 ICP光谱仪分析条件的选择 主要的分析条件有:高频发生器的输出功率、载气流量、观测高度和试样进样速度。在不同的ICP类型中,参数的设置方式是不同的。单道扫描仪器是逐个元素测定的,因此可进行单一元素的参数设定,而全谱直读类型仪器则每个样品只能设置一组参数。因此,在设置参数时,要综合考虑,以获得最强的检测能力和最小的基体效应。 5.1.1 高频发生器的输出功率的选择 高频发生器的输出功率又称发射功率。ICP-AES的检测能力和基体效应都与发射功率有关。在一定的范围内,增加发射功率,能使ICP的温度提高,谱线增强,但背景值也相应增加。不同元素或同一 * 感耦等离子体原子发射光谱分析 * 元素的不同谱线所要求的功率不尽相同,在单道扫描型光谱仪中,可分别根据元素的不同要求,设置不同的功率。但在多元素同时测定时,应综合考虑,选择合适的发射功率。一般对于水溶液,功率为0.95 kw?1.35 kw之间,对于有机溶液,功率为1.55 kw?1.75 kw之间。 5.1.2 气体流量的选择 气体流量包括载气流量、辅助气流量和冷却气流量。选择气体流量时要考虑ICP的温度、被测元素在ICP内的滞留时间以及轴向通道内的温度等。载气流量小,被测元素在ICP内的滞留时间长,轴向通道内温度高,利于谱线的发射,但载气流量小会导致雾化效率低,基体效应增强。对于直接利用 * 感耦等离子体原子发射光谱分析 * 载气提升样液的光谱仪,还要考虑载气对样品提升量的影响。载气流量大,样液提升量也大,反之亦然。由于冷却气流量大,直接影响ICP的温度。流量过低,不利于保护石英炬管,甚至会将石英熔化;流量过高,ICP的温度会太低,不能形成稳定的等离子体炬,测定的稳定性差。辅助气流量的大小虽然没有载气和冷却气的影响大,但也对测试结果有影响。一般地,载气流量和辅助气流量为0.5? 2.0 L/min,冷却气为10?20L/min。 5.1.3 观测高度的选择 由于等离子体原子发射光谱仪有垂直观察方式和水平观察方式两种。这里所指的观察高度是针对 * 感耦等离子体原子发射光谱分析 * 垂直观察方式而言的。从高频线圈的上缘到测量时所截取的那段炬焰的中心的垂直距离称作观测高度。在不同的观测高度, ICP的温度、背景发射和电子密度都有不同。易挥发、难激发的元素宜选择低的观测高度,如Zn、P等。难挥发、难原子化的元素应适当提高的观测高度,如W、Mo等,这是因为随着观测高度的升高,加热路程变长,这些元素可以更充分地原子化和激发。对于易电离易激发的元素也应采用较高的观测高度,如碱金属元素等。 * 感耦等离子体原子发射光谱分析 * 栅特别明亮,或者说该光栅在这一角度下“闪耀”。这种光栅被称为定向光栅或“闪耀光栅”。 对于普通光栅:m?=d(sin?±sin?)。 对于定向光栅:m?=d(sin?±sin?)。 在普通光栅中,当?=??时,m=0,即衍射最大光强落在零级谱上,在定向光栅中,m=0的条件变为? = - ?。从这个方向衍射的光谱线最强,它的波长成为闪耀波长,槽面法线与光栅表面法线所成的夹角?称为闪耀角。如果一级闪耀波长是?b(1),m级的闪耀波长?b(m)= ?b(1)/m。 * 感耦等离子体原子发射光谱分析 * 目前分光系统大致可分为三种形式:埃伯特式、采尼-特纳式和利特罗式。 4.2.2 埃伯特分光系统 4.2.2.1 垂直对称式 垂直对称式又称法斯弟-埃伯特(Faste-Ebert)式。入射光和出射光位于光栅的上下侧,用同一个球形凹面镜作为准直和聚焦元件。光束从位于光栅左侧的狭缝S1进入,投射到准直镜的左半部,再被反射到光栅上。经光栅衍射后投射到准直镜的右半部进行聚焦,再被反射在出射狭缝处S2。由于入射光与出射光投射在反射镜的不同部位,不会产生严重的散射光,又无像差,所得的光 * 感耦等离子体原子发射光谱分析 * * 感耦等离子体原子发射光谱分析 * 谱线质量好,将光栅绕单色仪的轴转动,即可进行谱线扫描或选择谱线。 4.2.2.2 水平对称式 水平对称式又称采尼-特纳(Czerny-Turner,C-T)式,是将垂直对称式的球形凹面镜换成两个独立的小球形凹面镜。其分光原理完全相同,只是光经过的路径由垂直方向变为水平方向。由于反射镜从一块变为两块,调节比埃伯特分光系统方便,但成像质量不如埃伯特分光系统好。对于单狭缝测试,这两种分光系统都能满足要求。对于线性波长或线性波数的扫描是最理想的。现代分析仪器用微处理器或电脑控制,波长转换很容易实现。 * 感耦等离子体原子发射光谱分析 * * 感耦等离子体原子发射光谱分析 * Varian公司的240原子吸收光谱仪就采用水平对称式。 4.2.3 自准式(Littrow式)

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