一种改进的基于sat的多错误诊断算法 sat-based algorithm for multiple design error diagnosis.pdfVIP

2007年第24卷第2期 微电子学与计算机 9 一种改进的基于SAT的多错误诊断算法 吴洋．唐璞山 (复旦大学微电子系专用集成电路与系统国家重点实验室，上海201203) 摘 Error 要：改进了一种组合电路设计错误诊断DED(DesigIlDiagnosis)算法。它使用多可满足性问题(SAT)求解 技术．通过对布尔可满足解计数来实现对多个逻辑错误的诊断定位。改进了电路诊断架构，新架构的合取范式表述 所使用的变量和子句数目大为减少；通过多种启发式方法，避免了不必要的操作，使算法在时间和内存上保持有效 性。 关键词：设计错误诊断；布尔可满足性；电子设计自动化 中圈分类号：7I∞91．7 文献标识码：A 文章编号：1000一7180(2007)02一o009-05 SAT—based for Error AlgorithmMultipleDesignDiagnosis WU Pu—shan Yan岛TANG State 201203，China) (ASIC＆SystemKeyLabomtory，MicroelectmnicsDepaItment，}’udanUniVer8ity，Shanghai Abstract：A ermr forcombinationalcircuit8is model—fbe design diagnosisaIgorithm presented．It(!anpe—Loml logic error10cation satsolutions试t}Ianall—solutionSAT80lVer．0ur o能礴嘲o oVer bycoun“Ilg a190Ii山m majoradVantages reducet}levariables粕dmeclausesanoVel existingmethods．Firsny，we using diagnosisco娟guration．Secondly，a nurnberofheuri8ticsare themetllod and九ln—tiIneemcient． pfoposed山atkeep nlemory woI‘ds： eITor automation Key Designdiagnosis；Booleansati8fiability；EIectmnicsdesign 1 引言 增长。Abadir等就单故障问题曾提出模型f41．但完备 设计错误诊断发生在电路设计周期的早期．有 性没有得到证明。一般来讲。由于处于设计周期早 别于其后的失效诊断。前者电路规格说明是HDL期．设计错误的基数不会太大，有的文献指出如果 描述编码的．而设计是以逻辑网表形式给出的。设 是逻辑综合的过程产生的设计错误．则基数不超过 计错误可能是电路元件的错误或者连线的错误。早 4。基于NP完全问题具有的多项式规约属性15l，将诊 期的错误倘若不被发现和纠正．所要付出的代价是 断问题编码转化为可满足性问题。在提出的新诊断 沉重的。故而验证问题变得尤为重要。但是无论模 架构中．通过将测试矢量约束条件以与或电路网络 拟验证还是形式验证．都不能指出电路不等价的原 的形式来表征，使得诊断问题对应的合取范式使