试验一光学元件的特性量测.doc

實驗一：光學元件的特性量測 [目的] 此實驗是利用Twyman – Green 干涉儀來檢驗一些光學元件的性質，像是表面的平整度、厚度、材質的均勻程度、彎曲度….等，準確度可達1~0.5個波長。 [原理] 將平行光通過或反射要檢測的材質，這將會造成此束平行光的波前產生變化，再將此光束與參考光束(也就是另一道平行光)重合，由於光學元件本身材質的表面性質…等造成的光程差，便會產生繞射圖案，檢驗這些繞涉圖案便可以了解光學元件的狀態與特性。 [儀器] 雷射 一台 Beam Expander (BE) 一組 Collimator 一個 分光鏡 一個 平面鏡 兩個 三菱鏡 一個 透鏡 數個 屏幕 一個 小光橋 一個 Iris 一個 球面鏡 一個 (與特定透鏡搭配使用: KPX-085ER.1、KBX-055) (鏡子請自行搭配鏡座使用) [實驗步驟] 1. 干涉儀的架設： 2.1架設雷射 2.1.1 可先確定一下雷射光的高度是否容許光束通過每個鏡面，再將雷射固定。 2.1.2 利用Iris來檢驗調整雷射光的水平與否(可將Iris放在光橋上移動檢驗)。 2.2 架設BE 2.2.1 將BE中的*固定在雷射前，但只需固定一端，使其可旋轉；@不要固定，放置位置如裝置圖所示。 2.3 架設分光鏡與平面鏡(M1,M2) 2.3.1 將分光鏡與雷射光夾角45° 雷射光前，M1、M2也如裝置圖所示，分別與分光鏡等距離放置。 2.4 調整光線 2.4.1 調整M1的傾斜度，使得M1的反射光能夠沿原路徑反射，在裝置圖所示處放上屏幕，再調整M2的傾斜度，使得M2的光線與M1的光線在屏幕上重合。調整光路前請將BE移開。 2.4.2 光路校正後將BE移回。先將@放在雷射前，再將*調回原位，請確定光路沒有偏斜。 2.4.3 將Collimator的鏡片上標記的一方朝上放在鏡架上固定後，將Collimator放在雷射光前，與雷射光夾角45°。觀察其所產生的影像，前後調整BE的*使其影像出現水平方向的繞涉圖案，約有3~5條的條紋出現。成功後即產生平行光，將Collimator移走。如移動*始終沒有繞涉條紋出現時，請調整*與@間的相對距離後再繼續調整。 2. 三菱鏡的測試： 2.5三菱鏡幾何形狀的完整度 2.5.1 將三菱鏡放在可調整傾斜度的鏡架上，如裝置圖所示，取代M2的位置。 2.5.2 旋轉三菱鏡，使其第一個平面(底面)反射的光不參與繞涉。 2.5.3 調整菱鏡的傾斜或角度，或調整M1，使得屏幕上產生以中央(菱鏡的頂角)對稱、左右條紋數一樣的干涉圖案。當條紋為垂直時，可調整M1使圖案呈V字型或倒V字型。 2.6三菱鏡表面的平整度 2.6.1將底面反射的光重新導回與其他光束重合，用紙片或其他不透明的物體遮住三菱鏡的一半(左右的其中一邊)，來阻擋三菱鏡從後面兩個呈90度的面反射回來的光。 2.6.2 調整菱鏡或M1使得條紋產生。此條紋★ 2.7 塑膠板的材質均勻度 2.7.1 將三菱鏡換回平面鏡。 2.7.2 將一把透明的塑膠尺或塑膠片放在M2與分光鏡之間的光路上，比較此光程差造成的繞涉圖案。 2.7.3 彎曲、扭轉、擠壓、伸展塑膠片可以造成不同的干涉圖案。施在塑膠片的壓力或力矩大小可以由干涉圖案來得知。 2.8 透鏡 2.8-1 凸透鏡+平面鏡 2.8-1.1 將透鏡架在小光橋上，放在M2分光鏡之間的光路上，並調整透鏡與平面鏡之間的距離，使得光線能聚焦在平面鏡上。 (由於光路必須儘量準確的校準，建議先將BE移開來調整光路，在透鏡放上前先調整使M1、M2的光點重合，放上透鏡後也必須使光點重合後，然後再放上BE、調成平行光後再繼續實驗) 2.8-1.2調整透鏡與M2間的距離或M2，使得圓形的繞涉圖案顯現。 2.8-1.3透鏡的光學特性，像是像差(aberration)：彗星像差(coma)、圓形像差(spherical aberration)…等，可就藉由觀察干涉圖案的樣式和條紋的粗細來得知。可替換不同的透鏡觀察不同的干涉圖案。 2.8-2 凸透鏡+凸面鏡 2.8-2.1將M2換成凸透鏡(KPX-085ER.1)，此時請裝上透鏡KBX-055。和之前一樣校正光線。 2.8-2.2 用小光橋調整M2與凸面鏡間的距離，並調整M1直到看到干涉圖案 2.8-2.2凸透鏡與凸面鏡的距離約為★ 實驗二：微位移的光學量測 [目的] 此實驗是利用Twyman – Green 干涉儀，藉由螢幕上之實驗干涉條紋的移動，探討微位移的光學量測之相關問題。 [儀器] 雷射　　 一台