无机材料测试方法.ppt

主要内容 绪论 光学显微分析 X射线衍射分析技术 热分析技术 电子显微分析 红外光谱分析 第一章 绪论 材料科学发展概况 课程的目的和作用 主要参考书 1.1材料科学发展概况 众多新型材料的出现如功能材料、梯度功能材料、纳米材料、复合材料等 材料设计 发展趋势： 新、高、精、尖 主要参考书 1、杨南如.无机非金属材料测试方法. 武汉工业大学出版社, 1993 2、王成国,等.材料分析测试方法.上海交通大学出版社,1994 3、物相分析.武汉工业大学出版社, 1994 4、王英华.X光衍射技术基础. 原子能出版社, 1993 5、邵国有.硅酸盐岩相学. 武汉工业大学出版社, 1991 6、常铁军,等.材料近代分析测试方法. 哈尔滨工业大学出版社, 1999 7、孙业英.光学显微分析.清华大学出版社，2003 主要内容 晶体光学基础 单偏光镜下晶体的光学性质 正交偏光镜间晶体的光学性质 锥光镜下晶体的光学性质 2.1晶体光学基础2.1.1光的基本性质 光是具有一定波长的电磁波；具有波动性和微粒性； 微粒性——光是由无数作直线飞行的微粒组成（基于光的直线传播）。 波动性——光是球形波的形式传播的（反映了光运动形式）。 光电效应的发现，证明了光是一物质（即光是由具有极小能量的粒“光子”组成的），而波动是质的运动形式。 光的波动形式——以正弦曲线运动，其传播方向与振动方向相互垂直。 2.2偏光显微镜 偏光显微镜是研究矿物晶体薄片光学性质的重要仪器，它比一般显微镜复杂，其主要的区别在于偏光显微镜装有两个偏光镜。 一个装在显微镜载物台之下，称下偏光镜（起偏镜），另一个偏光镜装在载物台之上的镜桶中，称上偏光镜（分析镜），二者透过光波的振动方向一般是垂直的。 偏光显微镜的类型较多，但其基本构造相似。 第三章 X射线衍射分析技术 简介 X射线物理学基础 X射线衍射原理 X射线衍射方法 X射线衍射仪 X射线物相分析 简 介 发现：1895年11月5日，德国物理学家伦琴在研究阴极射线时 确定：1912年，德国物理学家劳厄等人发现了X射线在胆矾晶体中的衍射现象，一方面确认了X射线是一种电磁波，另一方面又为X射线研究晶体材料开辟了道路 最早的应用：1912年，英国物理学家布拉格父子首次利用X射线衍射方法测定了NaCl晶体的结构，开创了X射线晶体结构分析的历史 简 介 X射线在近代科学和工艺上的应用主要有以下三个方面： 1.X射线透视技术 2.X射线光谱技术 3.X射线衍射技术 X射线物相分析法：利用X射线通过晶体时会发生衍射效应这一特性来确定结晶物质的物相的方法，称为~。1924年，建立了该分析方法。 目前，X射线物相分析法作为鉴别物相的一种有效的手段，已在地质、建材、土壤、冶金、石油、化工、高分子物质、药物、纺织、食品等许多领域中得到了广泛的应用。 简 介——岛津XRD的市场份额 3.1 X射线物理学基础3.1.1 X射线的本质 3.1 X射线物理学基础3.1.2 X射线的产生 2.X射线管 X射线管有多种不同的类型 目前小功率的都使用封闭式电子X射线管， 大功率X射线机则使用旋转阳极靶的X射线管 3.1 X射线物理学基础3.1.3 X射线谱 定义：X射线谱指的是X射线强度I随波长λ变化的关系曲线。 X射线的强度大小决定于单位时间内通过与X射线传播方向垂直的单位面积上的光量子数。 3.1 X射线物理学基础3.1.3 X射线谱 连续X射线谱的规律和特点： (1)当增加X射线管压时，各波长射线的相对强度一致增高，最大强度波长λm和短波限λ0变小。 (2)当管压保持不变，增加管流时，各种波长的X射线相对强度一致增高， 但λm和λ0数值大小不变。 3.1 X射线物理学基础3.1.4 X射线与物质的相互作用 3.1 X射线物理学基础3.1.4 X射线与物质的相互作用 相干散射：散射波与入射波的频率或波长相同，位相差恒定，在同一方向上各散射波符合相干条件，故称为-。（这是晶体衍射效应的根源） 非相干散射:散射线的波长各不相同,相互之间不会发生干涉现象,故称为-。 二次特征辐射：利用X射线光子激发作用而产生新的特征谱线，称为-。 （这是光谱分析的依据） X射线的衰减：当X射线穿过物质时，由于受到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，这种现象称为-。 3.2 X射线衍射原理3.2.1 晶体对X射线的衍射及布拉格方程 3.2 X射线衍射原理3.2.1 晶体对X射线的衍射及布拉格方程 衍射的本质：较大数量的原子互相协作而产生的一种散射现象。 3.2 X射线衍射原理3.2.2 X射线衍射束的强度 衍射束强度的表达式 结构因子、多重性因子、角因子、吸收