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技术专题… … … … … … … … … · 一 e a t lpi ， I· es； LTE终端带内辐射测量算法 武忠亚 重庆邮电大学通信网与测试技术重点实验室硕士研究生 程 方 重庆邮电大学通信网与测试技术重点实验室教授 张治中 重庆邮电大学通信网与测试技术重点实验室教授 摘要：针对带内辐射功率的测量需求，提出了一种 LTE系统具有频谱使用灵活、可与现有技术无缝互 LTE终端带内辐射测量算法。该算法对基本带内 操作以及网络部署和管理成本低廉等特性，目前已成为 辐射、I。镜像和载波泄漏三种带内辐射功率分剐 全球主流运营商的共同选择，设备商和终端厂商也加快 进行计算，准确地测量了带内辐射功率。使用带内 辐射测量算法分别对含有直流和消除直流的时域 了产品研发的进度[1]。LTE无线终端综合测试仪广泛应 信号进行仿真，仿真结果证明该算法可用于测量 用于终端生产中的校准和测试，以及终端、芯片研发设 带内辐射功率，结果准确可靠。 关键词：LTE，带内辐射，测量，功率 计等领域，同时应用于终端射频一致性认证测试中闭。射 频一致性测试包括射频发射机性能测试和接收机性能 Abstract：Accordingtothedemandofin—bandra— 测试。其中，发射机性能测试主要是对终端射频发射特 diationpowermeasurement，thispaperputsforward akindofin-bandradiationmeasurementalgorithm 性的测量，包括发射功率、输出功率动态范围、发射信号 forLTEtermina1．whichcallcalculatebasicin—band 质量 (频率误差、误差向量幅度、非分配资源块的带内辐 radiation，IQmirrorandcarrierleakaccurately．In- 射)和输出射频频谱泄漏 。LTE是以OFDM和MIMe bnadradiationmeasurementalgorithm iSusedtore— spectivelycontainingDCandeliminatetheDCtime 为技术基础的，OFDM系统对频偏和相位噪声比较敏感， domain signal simulafton．The simulation results OFDM技术区分各个子信道的方法是利用各个子载波之 provethatthealgorithm canbemeasuredwiht radi- natpower．andtheresultisreliable． 间严格的正交性5[]。频偏和相位噪声会使各个子载波之 KeyWords：LTE，In—bandradi~ion，Measurement， 间的正交特性恶化，造成LTE系统性能的严重下降，所 Power 以频率误差、误差向量幅度(EVM)、非分配资源块(RB) 的带内辐射是LTE终端必须考察的重要指标。因此，设 计一种带内辐射测量算法具有重大意义。 万方数据 Q 旦； l蔓…………………… … … … … … … … … … M 黻o㈣ Ec0MMcAT01Ns 1带内辐射简介 均功率上。载波泄漏也是根据一个非分配 RB来表 示，但要归一到所有分配RB上。由此得到下面两个 带内辐射是对落人非