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USB接口指标测试指导书 最小部门：（—企业数通产品线—企业数通研发管理部—企业数通硬件开发部） 评审记录： 主审人 评审专家 所属产品： 来源： 关键词：；Chirp测试。 1、描述 。 上升时间 Low Speed 1.5Mbps 75~300ns Full Speed 12Mbps 4~20ns High Speed 480Mbps 500ps 当我们的设备是作为HOST端是，数据方向是Down Stream，其关注的指标有： 信号质量 眼图测试(Eye-Diagram testing) 信号速率(Signal Rate) 包结尾宽度(End of Packet Width) JK抖动(JK jitter) KJ抖动(KJ jitter) 连续抖动(Consecutive jitter) 单调性测试(Monotonic test (for HS)) 上升与下降时间(Rise and Fall times) Droop(电压跌落) Chirp (Shake Hands) 2、 信号质量测试 由于我们的设备都是作为HOST端，在这里只介绍HOST端的接口指标测试方法。 USB High Speed信号质量测试方法 连接好被测设备(DUT)、测试夹具和示波器，具体的连接示意图如图 1 图 1 High Speed信号质量测试 DUT上电，启动USB测试包，发送测试命令，使USB端口能够发送出测试码流，具体的码流波形如图 2 图 2 High Speed信号质量测试 运行示波器上的USB测试软件，在Analyze菜单中选择USB2.0 Test 启动后的界面如图 3图 4 图 3 TEK USB测试软件 图 4 High Speed信号质量测试 选择眼图的模板。在USB 2.0的标准协议中，一共有4种模板。其测试模板的选择和端口的数据方向和测试点的选择有关。协议中定义个测试点的选择及对应的模板选择。如图 5图 6 图 5 USB2.0标准中的测试模型 图 6 USB2.0标准中关于模板选择的描述 图 7图 8Host 测试点 模板 示波器设置 TP2 Template 1 Down Stream+Near End TP3 Template 2 Down Stream+Far End 图 7 图 8 图 9 High Speed信号质量测试中Tier的选择 图 9图 10图 10 图 10 High Speed信号质量测试中Configure的选择 图 11 图 11 High Speed信号质量测试 其中报告中截图如图 12 图 12 High Speed信号质量测试 USB Full Speed信号质量测试方法 和High Speed信号质量测试不同的地方在于测试组网的方式不一样，具体的测试组网如图 13 图 13 Full Speed信号质量测试组网示意图 图 14 图 14 Full Speed信号质量测试 示波器其他的测试和High Speed一样，不同的地方是测试项的选择，需要选择Full Speed，其测试项还是选择Select All。 USB Low Speed信号质量测试方法 Low Speed的测试组网方式和Full Speed测试组网方式一样，不一样的地方是这次用的是Low Speed从设备，可以使用鼠标等从设备。测试时选择Low Speed，测试项选择Select All。示波器上就应该能抓到所需要的测试波形，如图15 图 15 Low Speed信号质量测试 与Full Speed测试方法不同的是，测试Low Speed时需要使用Cross，具体的设置在File菜单中，选择Preferences，会弹出一个设置窗口，在此窗口中需要将图中所示的选项选中，选择后就可以用Cross来指示有效的Low Speed信号，具体的设置方法如图16 图 16 Low Speed信号质量测试 Droop测试 这里的Droop测试就和电源中的USB插拔冲击电流和Drop测试内容是一致的，但是我们通常通过直接插拔U盘来测试VBUS上的电压跌落情况，其实这种测试方法是不正确的，因为根据USB2.0的标准定义是当端口上有100mA的负载变化时，VBUS上的电压跌落要求小于330mV，这里为什么需要关注VBUS的电压跌落，主要担心USB端口负载的变化影响VBUS电源上其他器件和USB端口的正常工作。 测试组网如下图所示，需要将测试夹具连接到被测端口，用USB端口给夹具供电。需要使用2个探头来来进行测试，一个探头用于Triger，点在负载端口上的VBUS信号上，另一个探头点在总线的VBUS