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应变传感器稳定性研究 陈得民 （北京必创科技有限公司 北京 100085） 摘自: 上海计量测试第3期 摘要：应变传感器稳定性一直是国内传感器行业及工程检测行业关注的问题。应变传感器指标很多，且指标之间不存在简单数学关系，所以传感器长期稳定性不能笼统的研究。本文给出了应变传感器工作原理，从材料力学，量子力学和电子力学方面深入探讨了造成应变传感器不稳定性的本质原因，并总结了改善应变片不稳定性常用的方法。本文的论述对应变传感器设计及工程应用具有一定的参考价值。 关键字: 应变传感器，稳定性，电阻率，温度补偿 中图分类号：TP393 文献标识码：A 1、引言 传感器长期稳定性是指传感器在使用过程中其各种技术指标随时间而变化的程度。传感器基本技术指标共有十多项,把这些具体指标的长期稳定性问题放在一起讨论是很困难。这是因为传感器多项技术指标之间不相互联系,其间不存在简单的数学关系, 其关联的技术和理论知识面广而且很复杂。 本文论述了应变传感器零点输出长期稳定性问题[1]。从理论上论述了传感器零点输出值随时间变化的机理。影响传感器零点输出长期稳定性因素是在传感器制造工艺、选材和工人操作因素引起的传感器工作电路电阻率变化,基底胶和弹性体材料的应力状态, 几何尺寸的变化而导致传感器零点输出值的变化。 如何提高电阻应变式传感器以下简称传感器的长期稳定性, 这是国内传感器行业非常关心的问题。 2、应变传感器工作原理[2~4] 应变效应——材料在受外力作用时，将产生机械变形，机械变形会产生阻值变化，这种因形变而使其阻值发生变化的现象称为“应变效应” 基本原理——σ=E *ε， ΔR/R = K * ε，其中σ为试件的应力，ε为试件的应变，E试件材料的弹性模量，ΔR/R电阻变化率，K为灵敏度系数，一般在1.7—3.6之间 测量原理——用应变片测量时，将其粘贴在弹性体上。当弹性体受力变形时，应变片的敏感栅也随同变形，其电阻值发生相应变化，通过转换电路转换为电压或电流的变化 检测电路——把应变计的ΔR/R变化转换成电压或电流变化，通常采用惠斯登电桥电路实现这种转换，如图1。 图1 惠斯登电桥 平衡条件：R1/R2=Rx/R3=n （1） 输出电压： （2） 3、 影响应变式传感器稳定性原因探讨 3.1 引起应变传感器不稳定原因分析 根据传感器的工作原理, 引起传感器零点输出值变化的因素是传感器工作电路中电阻的变化。传感器在制造、使用过程中由于哪些因素影响引起传感器工作电路电阻的变化是所要研究的本质问题。 根据量子力学原理金属由一群依一定规则排列原子构成，每颗原子均有一层（或多层）由电子组成的外壳。这些在外壳的电子能脱离原子核的吸引力而到处流动，是金属能导电的主要原因。当金属两端产生电势差（即电压）时，电子因电场的影响而作规则的流动，是为电流。在现实中，物质的原子排列不可能为完全规则，因此电子在流动途中会被不按规则排列的原子打散，是为电阻的来源 根据电阻定律导体的电阻R跟它的长度L成正比，跟它的横截面积S成反比，还跟导体的材料有关系公式为 R=ρL/S （1） 其中ρ：制成电阻的材料电阻率L：绕制成电阻的导线长度S：绕制成电阻的导线横截面积，R：电阻值。 某种材料制成的长1米、横截面积是1平方米的导线的电阻，叫做这种材料的电阻率。是描述材料性质的物理量。国际单位制中，电阻率的单位是欧姆·米。与导体长度L，横截面积S无关，只与物体的材料和温度有关，有些材料的电阻率随着温度的升高而增大，有些反之。 3.2 影响电阻率变化的原因分析 在普通电工学中, 一定材料的电阻率是按常数来对待的,可是在研究传感器的时候却不能把电阻率按常数来对待。 根据量子力学[5],金属的电阻率要随着电子的散射几率而变化。电子的散射几率越大, 材料的电阻率越大。电子散射几率是主要受温度、应力、压力、范性形变、材抖的化学成分和材料的组织结沟等因素的影响。 由于对某种金属而言材料的化学成分已经确定，应力、压力、范性形变的改变本质上是改变了金属内部某些组织结构，导致电子散射几率变化，所以本文主要对引起电子散射几率变化的温度和范性形变进行分析。 3.2.1 范性形变对电阻率的影响[6] 固体受外力作用而使各点间相对位置的改变，当外力撤消后，固体不能恢复原状谓之“索性形变”，又称为“范性形变”