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光电检测方法 2.1直接探测 2.1.1基本物理过程 直接探测是将待检测的光信号直接入射到光探测器的光敏面上，由光探测器将光信号直接转化为电流或电压，根据不同的要求，再经后续电路处理，最后获得有用的信号。 一般，光探测器前可采用光学天线，在其前端还可经过频率滤波和空间滤波处理。这是为了进一步提高探测效率和减小杂散的背景光。 信号光场可表示为，式中，A是信号光电场振幅，是信号光的频率。则其平均功率P为 （2.1.1） 光探测器输出的光电流为 （2.1.2） 若光探测器的负载电阻为,则光探测器输出的电功率为 （2.1.3） 光探测器输出的电功率正比于入射光功率的平方。从而可知，光探测器对光的响应特性包含两层含意，其一是光电流正比于光场振幅的平方，即光的强度；其二是电输出功率正比于入射光功率的平方。如果入射信号光为强度调制（TM）光，调制信号为。从而得 （2.1.4） 式中第一项为直流项，若光探测器输出有隔直流电容，则输出光电流只包含第二项，这就是直接探测的基本物理过程，需强调指出，探测器响应的是光场的包络，目前，尚无能直接响应光场频率的探测器。 2.1.2信噪比 设入射到光探测器的信号光功率为,噪声功率为，光探测器输出的信号电功率为，输出的噪声功率为。可得 （2.1.5） 根据噪声比的定义，则输出功率信噪比为 （2.1.6） 从上式可以看出 若 ，则有 （2.1.7） 输出信噪比等于输入信噪比的平方。由此可见，直接探测系统不适于输入信号比小于1或者微弱光信号的探测。 若 ，则 （2.1.8） 输出信噪比等于输入信噪比的一半，即经光—电转换后信噪比损失了3dB，在实际应用中还是可以接受的。 由此可见，直接探测方法不能改善输入信噪比。 如果考虑直接探测系统存在的所以噪声，则输出噪声总功率为 （2.1.9） 式中，分别为信号光，背景光和暗电流引起的散粒噪声。为负载电阻的热噪声。 （2.1.10） 当直接探测系统主要为信号光引起的散粒噪声限制（即量子噪声限）时 （2.1.11） 这就是理想的直接探测系统所能达到的最大信噪比极限。 2.1.3噪声等效功率(NEP) 不同的系统有不同的信噪比要求，因而不可能有归一化的灵敏度指标，为了便于分析和评估探测系统的性能，引入等效噪声功率（NEP）这一指标。它可以反映直接探测系统微弱光辐射的能力。 等效噪声功率为,时所需的信号功率。在直接探测系统中往往同时存在多种噪声源，但是，在不同情况下，各种噪声源的噪声电平是不同的，按不同的起主导作用的噪声源分析，可得出一下几种噪声限下的NEP。 一般情况下的NEP表示式 （2.1.12） 当热噪声是直接探测系统的主要噪声源，而其他噪声可以忽略时，我们就说直接探测系统受热噪声限制，这时的NEP为 （2.1.13） 当散粒噪声为主，其它噪声可以忽略时，则直接探测系统受散粒噪声限制，这时的NEP为 （2.1.14） 当背景噪声是直接探测系统的主要噪声源，其它噪声可以忽略时，我们就说直接探测系统受背