2009第九章----电子光学基础.pptVIP

* X射线衍射 电子显微分析 主讲：胡锦莲 2009.2---2009.7 近代材料分析测试方法 本课程的要求： ●掌握基本的原理、了解常用的实验方法； ●在实际工作中能正确的选用本课程中介绍的实验方法； ●能与专门从事X射线与电子显微分析的人员共同制定 实验方案，并能分析实验结果验方案☆ ●原理：X射线衍射 X射线衍射---内容回顾和特别提示 d——相邻的两个平行干涉面间的距离。 （有时还需结合相对强度I） ●误差：样品平面过高过底会给测量带来一定误差。 (可根据需要采用标准样品定标的方法） ●可测定物相、物相的相对含量、 取向、晶格常数、应力等。 ●鉴定物相：考虑三强线的d值 测角仪光学系统：聚焦光学系统、平行光学系统 同台仪器上两种光学系统可切换 该系统样品制备： ①微米大小的粉末，总厚度：大约几张薄纸的厚度 ②片状多晶体，厚度：大约几张薄纸的厚度 该系统扫描方式（仪器所决定）： ---- 样品不动，入射线转过 ，探测器转过 ----入射线不动，样品转过 ，则探测器转过 衍射线来源：与样品表面平行的晶面。 （1）聚焦光学系统：用于粉末法---可测量粉末和多晶体， （2）平行光学系统：用于薄膜法——可测量薄膜和单晶， 衍射线来源：各种方向的晶面。 该系统扫描方式： —— 样品不动，入射线不动，探测器转动 掠入射 第七章 电子光学基础 本章要点： 1. 分辨率的概念、衍射所限定的分辨率的计算式☆ 2. 电子波的波长计算☆ 3. 电磁透镜的组成 4. 电磁透镜的像差 5. 电磁透镜的分辨率：影响因素，如何计算，如何提高 ☆ 6. 电磁透镜的景深和焦长（概念和大致数值） 电子显微分析 光学显微镜的发明为人类认识微观世界提供了重要的工具。随着科学技术的发展，光学显微镜因其有限的分辨本领而难以满足许多微观分析的需求。 上世纪30年代后，电子显微镜的发明将分辨本领提高到纳米量级，同时也将显微镜的功能由单一的形貌观察扩展到集形貌观察、晶体结构、成分分析等于一体。人类认识微观世界的能力从此有了长足的发展。 　 §7－1 电子波与电磁透镜　 ●点成像-----艾里（Airy)斑： 一. 光学显微镜的分辨极限 物点通过透镜成像时，由于衍射效应，在像平面上不是一个点，而是1个中心最亮，周围带有明暗相间的圆环的圆斑 ●两点成像-----刚好分辨的条件 当两个光斑间的强度值恰好比强度峰值低19%时，这两个暗斑刚能分开 ●定义分辨本领：能分辨开的两个物点间的最小距离 ●光学显微镜的分辨本领： 可见光范围内，光学显微镜镜分辨本领的极限为200nm, 要提高显微镜的分辨本领，关键是要有波长短，又能聚焦成象的光源。 ●衍射引起的分辨本领计算式： λ-光的波长 α—孔径半角 n —折射率 对光学玻璃透镜来说，取最大孔径半角α=70～750，在物方介质为油的情况下，n=1.5，那么nsinα=1.25-1.35 ， 二. 电子的波长 根据德布罗意物质波的假设，物质具有微粒性，也具有波动性。物质波的波长为： 式中，h—为普朗克常数 h=6.626×10-34J.S m—为电子的质量 设加速电压为U,则电子获得的动能为 透射电镜的加速电压一般为50-200kv，电子波长在0.0536-0.0251 ?,比可见光的波长（390nm-760nm)小十几万倍，比结构分析中常用的X射线的波长也小1-2个数量级。 选修：电子波波长的计算（经相对论计算） 在电子显微镜中，电子的加速电压很高，电子速度很大，接近光速。此时需考虑运动速度对粒子质量的影响．要用到狭义相对论的一些公式 狭义相对论力学 因此，电子经电压为U 的电场加速后，其相对论波长为： 三. 电磁透镜 电子波和光波不同，不能通过玻璃透镜会聚成像。但是轴对称的非均匀磁场则可以让电子束折射，从而产生电子束的会聚成像。用磁场构成的透镜称为电磁透镜。 ●电磁透镜定义：用磁场构成的透镜称为电磁透镜。 通电的长线圈内 可产生均匀磁场， 管内磁力线互相平行 ①均匀磁场，速度与磁场平行，电子不受磁场力，做匀速直线运动 ②均匀磁场，速度与磁场垂直，电子在与磁场垂直的平面内作匀速园周运动。 ③均匀磁场，速度与磁场成θ角，电子在磁场内作螺旋运动。 ④轴对称的非均匀磁场，电子作螺旋近轴运动---电磁透镜 ●电子运动与磁场的关系 ●电磁透镜原理： 通过通电的短线圈，产生轴对称的非均匀磁场， 对