双轴晶体锥光效应光盘径向寻迹研究.PDF

第 卷第 期 光 子 学 报 ３９ ７ 　 　 　 Ｖｏｌ．３９Ｎｏ．７ 年 月 　　　　　　　　　　　　 ２０１０ ７ Ｊｕｌ２０１０ ＡＣＴＡＰＨＯＴＯＮＩＣＡＳＩＮＩＣＡ ｙ 文章编号： （ ） １００４４２１３２０１００７１３０８４ 双轴晶体锥光效应光盘径向寻迹研究 武志超，梁柱 （长春理工大学 理学院，长春 １３００２２） 摘 要：根据晶体锥光效应提出一种光控制方法 在双轴晶体中光波沿光轴方向入射时，其传播方 ． 　 向随光偏振方向的不同而改变，通过控制磁光偏振调制器上磁场强度改变光的偏振方向，从而实现 对激光束方向的控制 据此分析了双轴晶体锥光效应光盘寻迹的基本原理并设计出总体方案，数值 ． 模拟计算得到晶体入射光偏振角度与寻迹位移的关系，初步验证了此方案的合理性，该方案与传统 机电跟踪寻迹方式相比具有结构轻巧，动态响应快等优点 同时，也为光开关、扫描等技术提供了一 ． 种新的思想和方法． 关键词：锥光效应；寻迹；光学头 中图分类号： 文献标识码： ： ／ ＴＮ２４８．１ Ａ 犱狅犻１０．３７８８ ｚｘ１３０８ 　　　　 　　　　 ｇ 一个锥面上 最终，从晶体中透射出来的光将形成一 ０ 引言 ． 　 个空心圆筒，称为内锥折射，如图１． 随着信息技术的不断发展，光盘作为载体已经 广泛应用于信息记录和交换，它具有信息容量大、经 久耐用、成本低、非接触激光束扫描存取等特点 至 ． 今，研究人员纷纷提出了多种技术方案以提高信息 ［］ １ 记录密度，例如蓝光技术 、多层存储和超分辨技 ［］ ２ 术 等 与此同时，对光盘的读取与伺服速度和准确 ． ［ ］ ３６ 度的要求也越来越高 ，因此，光学头的设计也是 存储技术中的一项关键技术． 传统的光学头有大量的机械装置，很大程度上 图 双轴晶体内锥形折射图 １ 限制了光学头的大小、质量和速度 为提高光盘微调 　 ． Ｆｉ．１ Ｓｃｈｅｍａｔｉｃｏｆｃｏｎｉｃａｌｒｅｆｒａｃｔｉｏｎｅｆｆｅｃｔｉｎ 径向寻迹速度，开发固态器件替代机电寻迹装置是 ｇ