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第七章 键盘和LED显示 第一节 键盘设计 一 按键种类 在微机系统中，键盘是一种最常用的外设，它由多个开关组合而成。可以用来制造键盘的按键开关有好多种，最常用的有机械式、薄膜式、电容式和霍尔效应式等4种。 机械式开关较便宜，但压键时会产生触点抖动，即在触点可靠地接通前会通断多次，而且长期使用后可靠性会降低。高质量机械式开关的寿命约100万次。 薄膜式开关可做成很薄的密封单元，不易受外界潮气或环境污染，常用于微波炉、医疗仪器或电子称等设备的按键。不同薄膜开关的寿命差别很大。 电容式开关没有抖动问题，但需要特制电路来测电容的变化，平均寿命约2000万次。 霍尔效应按键是另一种无机械触点的开关，具有很好的密封性，平均寿命高达1亿次甚至更高，但开关机制复杂，价格昂贵。 计算机上用的键盘一般都用机械式开关。 二 键盘的工作原理 ⒈ 简易键盘 说明：电路简单，但是有个最大的缺点，那就是每个键要用一条线，每8个开关还要占用一个8位的并行端口。一个具有64个键的键盘需要64条连线，与8个8位的并行端口相连。所以，这种结构只能应用于仅有几个键的小键盘中。 ⒉ 行列式键盘 ① 电路图 ② 电路说明 设16个键分别为16进制数字0～9和A～F，键盘排列、连线及接口电路如上图所示。16个键排成4行×4列的矩阵，接到微型机的一对端口上。端口由8255A构成，其中端口A作输出，端口B作输入。矩阵的4条行线接到输出端口A的PA3～PA0，用程序能改变这4条行线上的电平。4条列线连到输入端口B的PB3~PB0，4条行线还同时接到输入端口B的PB7～PB4上。这样，用输入指令读取B口状态时，可同时读取键盘的行列信号。 ③ 工作原理 在无键压下时，由于接到＋5V上的上拉电阻的作用，列线被置成高电平。压下某一键后，该键所在的行线和列线接通。这时，如果向被压下键所在的行线上输出一个低电平信号，则对应的列线也呈现低电平。当从B口读取列线信号时，便能检测到该列线上的低电平。读取B口的状态时，还能读到行线上的低电平信号。这样，根据读入的行和列状态中低电平的位置，便能确定哪个键被压下了。 ④ 键盘扫描过程 Ⅰ 检测是否所有键都松开了，若没有则反复检测； Ⅱ 当所有键都松开了，再检测是否有键压下，若无键压下则反复检测； Ⅲ 若有键压下，要消除键抖动，确认有键压下； Ⅳ 对压下的键进行编码，将该键的行列信号转换称16进制码，由此确定哪个键被压下了。如出现多键重按的情况，只有在其它键均释放后，仅剩一个键闭合时，才把此键当作本次压下的键。 Ⅴ 该键释放后，再回到Ⅱ。 注意： Ⅰ 检测矩阵中是否有键压下的一种简单方法是，自输出口A向所有行线输出0电平，再通过B口的低4位读取列值，若其中有0值，便是有键压下了。 Ⅱ 当检测到有键压下后，必须消除键抖动。消除键抖动的常用方法是在检测到有键压下后，延长一定时间（通常为20ms），再检查该键是否仍被压着。若是，才认定该键确实被按下了，而不是干扰。 Ⅲ 确认有键压下 后，再确定被压下键所在的行列号。为获取行列信息，先从A口输出一个低电平到一行线上，再从B口读入各列的值，若没有一列为低电平，说明压下的键不在此行。于是，再向下一行输出一个低电平，再检测各列线上是否有低电平。依次对每一行重复这个过程，直到查到某一列线上出现低电平为止。被置成低电平的行和读到低电平的列，便是被压下键所在的行列值。 已知被压下的键所在的行号（0～3）和列号（0～3）后，就能得到该键的扫描码。例如，对于数字0,它位于3行、3列，压下“0”键时，从B口可读得D7为和D3位为0,其余位为1,所以数字0的编码，即77H。把所有按键的编码列成表，放在数据段中，用查表程序来查对，便能确定压下的是什么键。 ⑤ 程序 执行程序后，若返回值AX=0，表示已读到有效的键值，并在BX中存有0～F键的16进制代码；若AX=1，则表示出错。 ；端口地址 PORT_A EQU 0FF8H ；8255A口地址 PORT_B EQU 0FFAH ；8255B口地址 PORT_CTL EQU 0FFEH ；8255控制口地址 ；数据段，键盘扫描表 DATA SEGMENT ； 0 1 2 3 4 5 6 7 TABLE DB 77H,7BH,7DH,7EH,0B7H,0BBH,0BDH,0BEH ； 8 9 A B C D E F DB 0D7H,0DBH,0DDH,0DEH,0E7H,0EBH,0EDH,0EEH DATA ENDS ；堆栈段 STACK SEGMENT STACK DW 50 DUP(0) TOP_