测试向量的周期化关键技术研究与实现吴明行韩银和胡瑜李晓维.docVIP

测试向量的周期化关键技术研究与实现 吴明行, 韩银和, 胡瑜, 李晓维 （中国科学院计算技术研究所，北京，100080） { wumx, lxw } @ict.ac.cn 摘要：本文提出了一种将状态取样法和波形提取法结合使用的测试向量周期化方法。在该周期化方法中，需要一个逐拍匹配生成新定时组的过程，为了减少生成定时组时间，本文实现了一种基于哈希表的周期化算法。它不仅在速度上得到优化，同时也减少了波形失真度。实验结果表明，该周期化方法是一种行之有效的测试向量转换方法。 关键字：测试向量；状态取样法；波形提取法；中间格式文件 Research and Realization of Key Technologies in Test Vector Cyclization Wu Mingxing, Han Yinhe, Hu Yu, Li Xiaowei (Institute of Computing Technology, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100080) Abstract: In this paper, we present a proposed cyclization method that combines sampling method and waveform method. Using this method, the procedure is to need a timing set in every period. In order to reduce time in this procedure, we realize a fast cyclization algorithm based on the hash table. Experimental results show that this approach is efficient and automated in test vector translation. Key words: test vector; sampling method; waveform method; hash table 引言 随着集成电路复杂度和芯片工作频率的增加，测试这些电路成为系统成本较高的过程。其中被测器件的管脚数的增大和测试的总容量迅速增加，使得测试矢量变得十分庞大，从设计端到测试仪端的测试程序生成，其间的转换关系也变得十分复杂，这些不利因素导致了测试成本的增加。 测试开发工具中把设计仿真向量转换成ATE可以识别的基于周期的数据格式的功能，可以帮助减少测试工程的时间和成本。随着现在器件的复杂性越来越高，新的制造需求不断出现，这种转换的挑战性也变得极大，例如SoC设计通常包括几十个IP模块，这些模块各自集成了微处理器、存储器和外围核，因此具有复杂的时序要求。在设计到产品测试流程中，测试工程师需要理解复杂的仿真数据，并把来自设计环境的时序数据匹配到测试环境，优化这个重要步骤，对于确保可以获得正确、高效的测试程序变得至关重要。目前国际上相关的测试开发工具很多，包括Credence公司的TDS软件， TestInsight公司的WaveWizard 软件等，为了适应日益复杂的芯片测试需求，这些软件也在不断提高自己产品的周期化技术性能[1]。 本文将对测试开发中的测试向量周期化关键技术进行研究并提出了一个改进的方法。通过对该方法的实现，给出相应的实验结果。 测试向量周期化技术分析 所谓周期化（Cyclization）就是把基于事件的仿真波形转换为用于ATE系统的时序和向量组的周期化波形。每个ATE平台都有特定的编程语法和规则，测试程序必需符合这些规则才能产生真实反映DUT行为的波形。在事件型的测试向量文件中，记录的每个事件都由一个事件值和一个事件时间构成。事件值指信号值的变化。事件时间是指事件发生的时间，该时间相对于0时刻的时间偏移量。由于这种测试向量包含的定时信息并不完整，所以这种仿真向量必须经过转换才能被ATE使用。 测试向量转换的核心就是获取定时组信息以及提取波形值。从基于周期的测试设备角度来看，描述一个波形需要四方面的信息：1）测试周期：测试仪器提供的时钟周期资源；2）波形调制格式，例如NRZ（不归零格式）, RO（归一格式）,RZ（归零格式）,SBC（环绕补码格式）等；3）定时沿时间：输入驱动沿时间，输出选通沿时间；4）状态信息 ：各类管脚的波形值，如0（输入低电平），1（输入高电平），L（输出低电平），H（输出高电平），Z（高阻态），N(不确定态)等。其中1)2)3)合称为定时信息。 从设计端到测试仪端的测试向量周期化过程中，关键方法可以概括为以下两个方面： 2