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嵌入式存储器空间单粒子效应失效率评价方法研究-电子与信息学报.pdf

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    第卷第期电子与信息学报年月嵌入式存储器空间单粒子效应失效率评估方法研究支天杨海钢蔡刚秋小强李天文王新刚中国科学院电子学研究所北京中国科学院大学北京摘要嵌入式存储器易受到空间单粒子效应的影响该文提出了一种单粒子效应失效率评估的方法包含了单粒子翻转和单粒子瞬态扰动等效应对嵌入式存储器不同电路单元的具体影响可对不同存储形式不同容错方法的嵌入式存储器单粒子效应失效率进行定量评估该文提出的评估方法在中国科学院电子学研究所自主研制的嵌入式可编程存储器试验芯片上得到了验证地面单粒子模拟实验表明该文方法预测的失

    第 36 卷第 12 期 电 子 与 信 息 学 报 Vol.36No.12 2014 年 12 月 Journal of Electronics Information Technology Dec. 2014 嵌入式存储器空间单粒子效应失效率评估方法研究 支 天①② 杨海钢*① 蔡 刚① 秋小强① 李天文①②

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