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2017-09-03 发布于浙江
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Xray Optics ICDD（x光光学ICDD）

Copyright(C)JCPDS-International Centre for Diffraction Data 2000, Advances in X-ray Analysis, Vol.42 297 Copyright(C)JCPDS-International Centre for Diffraction Data 2000, Advances in X-ray Analysis, Vol.42 297 X-RAY OPTICS Eberhard Spiller Lawrence Livermore National Laboratory Livermore, Ca 94550 spiller@ INTRODUCTION We summarize recent progress in x-ray optics, emphasizing topics not covered elsewhere at the conference. We concentrate on optics for high resolution imaging like zone plates and multilayer mirror optics and the application of these elements to x-ray microscopy, astronomy and lithography. The advances in x-ray optics during the last 25 years were facilitated by the availability of bright synchrotron radiation sources,the invention of multilayer x-ray mirrors with high reflectance, and the development of high resolution zone plates. The high brightness and good collimation of modern synchrotron radiation sourcestransformed some of the older schemes, for example x-ray waveguides, focussing capillaries or hollow tubes, and x-ray lensesfrom laboratory demonstrations to useful tools. OPTICAL CONSTANTS The first challenge for x-ray optics was already noticed by