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第卷第期电子与信息学报年月用于低开销容错设计的存储部件可靠性评估研究成玉马安国蒋江唐遇星张民选国防科学技术大学计算机学院长沙摘要低开销容错技术是当前软错误研究领域的热点为了对微处理器进行低开销容错保护首先就需要对微处理器可靠性即体系结构弱点因子进行准确评估然而现有的评估工具的精确性和适用范围都受到不同程度的限制该文以微处理器上的核心部件即存储部件作为研究对象对评估方法进行改进提出了一种访存操作分析和指令分析相结合的评估策略该文将融入到通用的模拟器中实现了更精确和更通用的评估框架实验结果表明相比其
第 33 卷第 11 期 电 子 与 信 息 学 报 Vol.33No.11
2011 年 11 月 Journal of Electronics Information Technology Nov. 2011
用于低开销容错设计的存储部件可靠性评估研究
成 玉* 马安国 蒋 江 唐遇星 张
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