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X光绕射讲义20161124
大綱
同步輻射 X 光繞射在結構上 •X光與結晶學
之原理與應用 •X光繞射基本原理
•X光繞射儀器與實驗方法
•X光繞射數據分析
許火順 •X光繞射應用
國家同步輻射研究中心
hsheu@.tw
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參考資料
• Cullity, B.D. and Stock, S.R., 2001, Elements of X-Ray Diffraction, Third Edition,
Addison- Wesley, 664 p.
• Pecharsky, Vitalij, Zavalij, Peter, 2003 Fundamentals of Powder Diffraction and
Structural Characterization of Materials, Second Edition Springer
• Jenkins, Ron and Snyder, Robert L., 1996, Introduction to X-ray Powder
Diffractiometry, John Wiley, 403 p.
• 許樹恩和吳泰伯 , X光繞射原理與材料結構分析國科會精儀中心, , 1992.
• McCusker, L. B., Von Dreele, R. B., Cox, D. E., Louer, D. Scardi, P. (1999).
“Rietveld Refinement Guidelines”, J. Appl. Cryst. 32, 36-50.
• W. I. F. David, K. Shankland, L. B. McCusker, Ch. Baerlocher “Structure
Determination From Powder Diffraction Data”, Oxford University Press 2002.
重要網站：
• www.ccp14.ac.uk
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History of X-rays
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