平均晶粒度-金属材料的平均晶粒度标准测试方法.docVIP

名称：E112-96（2004年重新核准） ——平均晶粒度标准测试方法1 这一标准是根据E112条款颁布的；E112之后紧跟的数字表示最初编辑的年份，或者表示最后修改的年份（如果有修改），括号内数字（如果有的话）则表示最终批准的年份，上标ε1表示从最后修改或批准之日起的一次编辑更换。 该标准被国防部各相关部门认可使用。 简介 这些金属平均晶粒度测试方法根本上是测量过程。因为这一过程完全是独立于金属及其合金材料的几何学问题。实际上，这些基本方法也应用于评估非金属的平均晶粒、晶体及晶胞尺寸。如果材料组织结构接近于标准对比图谱中的某一个图的话，可以采用对比法。截距法和求积法也经常应用于确定平均晶粒度。然而，对比法不能应用于单个晶粒的测量。 1 范围 1.1 本标准规定了金属组织的平均晶粒度表示及评定方法。这些方法也适用晶粒形状与标准系列评级图相似的非金属材料。这些方法主要适用于单相晶粒组织，但经具体规定后也适用于多相或多组元和试样中特定类型的晶粒平均尺寸的测量 1.2 本标准使用晶粒面积、晶粒直径、截线长度的单峰分布来测定试样的平均晶粒度。这些分布近似正态分布。本标准的测定方法不适用于双峰分布的晶粒度。双峰分布的晶粒度参见标准E1181。测定分布在细小晶粒基体上个别非常粗大的晶粒的方法参见E930。 1.3本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量，也就是试样截面显示出的二维晶度，不适用于试样三维晶粒，即立体晶粒尺寸的测量。 1.4 试验可采用与一系列标准晶粒度图谱进行对比的方法或者在简单模板上进行计数的方法。利用半自动计数仪或者自动分析晶粒尺寸的软件的方法参见E1382。 1.5本标准仅作为推荐性试验方法，它不能确定受检材料是否接收或适合使用的范围。 1.6 测量数值应用SI单位表示。等同的英寸－英镑数值，如需标出，应在括号中列出近似值. 1.7 本标准没有列出所有的安全事项。本标准的使用者应建立适合的安全健康的操作规范和使用局限性。 1.8 章节的顺序如下： 章节 顺序 范围 1 参考文献 2 术语 3 重要性和用途 4 使用概述 5 制样 6 测试 7 校准 8 显微照相的准备 9 程序比较 10 平面法（JEFFRIES） 11 普通截取法 12 海恩线截取法 13 圆形截取法 14 Hilliard 单环法 14．2 Abrams 三环法 14．3 统计分析 15 非等轴晶试样 16 含两相或多相及组元试样 17 报告 18 精度和偏差 19 关键词 20 附件 ASTM晶粒尺寸等级基础 附件A1 晶粒度各测量值之间的换算 附件A2 铁素体与奥氏体钢的奥氏体晶粒尺寸 附件A3 断口晶粒尺寸方法 附件A4 锻铜和铜基合金的要求 附件A5 特殊情况的应用 附件A6 附录 多个实验室的晶粒尺寸判定结果 附录X1 参考附件 附录X2 2、参考文献 2.1 ASTM标准 E3 金相试样的准备 E7 金相学有关术语 E407 微蚀金属和合金的操作 E562计数法计算体积分数的方法 E691 通过多个实验室比较决定测试方法的精确度的方法 E883 反射光显微照相指南 E930 截面上最大晶粒的评估方法（ALA晶粒尺寸） E1181双峰分布的晶粒度测试方法 E1382 半自动或全自动图像分析平均晶粒度方法 2.2 ASTM附件 2.2.1 参见附录X2 3 术语 3.1 定义－参照E7 3.2 本标准中特定术语的定义： 3.2.1 ASTM晶粒度——G,通常定义为 公式 （1） NAE为100倍下一平方英寸（645.16mm2）面积内包含的晶粒个数，也等于1倍下一平方毫米面积内包含的晶粒个数，乘以15.5倍。 3.2.2＝2.1 3.2.3 晶界截点法—— 通过计数测量线段与晶界相交或相切的数目来测定晶粒度（3点相交认为为1.5个交点） 3.2.4晶粒截点法—— 通过计数测量线段通过晶粒的数目来测定晶粒度（相切认为0.5个，测量线段端点在晶粒内部认为0.5个） 3.2.5截线长度—— 测量线段通过晶粒时与晶界相交的两点之间的距离。 3.3 符号 两相显微组织中的基体晶粒 测量面积 截面上的平均晶粒 晶粒伸长率或纵向晶粒伸长率 平均平面晶粒直径（平面Ⅲ） 平均空间（体积）晶粒直径 平面计算方法的JEFFRIES乘数 显微晶粒度级别数 平均截距 在两相显微组织中的基体晶粒上的平均截距 非等轴晶粒纵向平均线截距 非等轴晶粒横向平均线截距 非等轴晶粒面积平均线截距 基本长度32mm，用于在微观和宏观截线法说明G与之间关系 测试线长度 放大倍数 图谱中的放大倍数 视场个数 两相显微组织中的