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USB2.0从物理层到协议层的测试方案.pdf

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USB2.0从物理层到协议层的测试方案

基于Infiniium 9000 系列示波器的 从物理层到协议层USB2.0 的测试方案 安捷伦科技中国有限公司 马卓凡 概述 自从1995 年USB (Universal Serial Bus,通用串行总线)诞生起,由于USB 接 口的简单易用、支持热插拔、速度快等特点被广泛应用于当今的电子产品中,USB 堪称是PC 平台上最成功的I/O 技术,除PC 及外设外,也成为打印机、手机及各种 消费电子产品标准的扩展接口。USB 标准规范历经多年的发展从第一代的1.0 Low Speed/ 1.1 Full Speed,演进到2.0 High Speed 标准,补充标准On-The-Go (OTG )允 许便携设备之间直接交换数据,在2008 年底USB 3.0 Super Speed 规范也已经发布。 这些接口标准都是向下兼容的,接口速度也由1.5Mbps,12Mbps,480Mbps 发展 到5Gbps 。 随着接口传输速度的提高,对于设计和开发者来说,信号完整性的问题也越 来越突显,另外以串行的传输结构,在协议层和互操作方面也有更大的挑战。USB- IF (USB Implementers Forum,USB 实施者论坛)制定了一致性测试规范,在电气 层面、功能层面、互操作层面规定认证测试方案,并授权测试实验室认证测试, USB 相关产品通过测试取得USB 徽标的认证。这就要求USB 开发人员能够在实验 室研发阶段,进行满足一致性规范要求的预测试,及早的发现和解决问题,从而加 快产品的量产速度。 本文介绍了基于集示波器和协议分析功能为一身的安捷伦Infiniium 9000 系列 示波器用来测试和分析USB2.0 物理电气层和协议层的完整解决方案*。 USB 2.0 基本规范 USB 2.0 规范定义了三种信号速率,分别是低速,全速和高速,电气特性如表 1 所示: 速率 幅度 上升时间** 低速(Low Speed) 1.5 Mb/s 3.3 V 75 ns - 300 ns 全速(Full Speed) 12 Mb/s 3.3 V 4 ns –20 ns 高速(High Speed) 480 Mb/s 400 mV 500 ps 表1 USB 2.0 电气特性规范 * 由于篇幅所限,本文只介绍针对USB2.0 总线的测试方案,USB3.0 的测试方案另文介绍。 **上升沿时间T 定义为10%-90% r 小问题:USB2.0 测试需要多大的带宽的示波器 对于高速USB2.0 信号来说,信号的最大频率分量fMAX=0.5/Tr 。 在保证3%的测量精度的要求下,示波器的带宽BWscope=1.9 x fMAX (注:此公式 适用于高斯响应示波器)。 所以,对于上升沿时间为500 ps 的高速USB 2.0 信号,示波器的带宽至少应该 为2 GHz 左右,以9000 系列示波器来说,应选取2.5 GHz 带宽的示波器以及更高 带宽的差分探头进行高速USB 信号的测试。 USB 系统设备类型包括主机(Host),集线器(Hub),外设(Device)。USB Host 负 责管理I/O 系统及应用软件,管理外设枚举(Enumeration),在运行过程中初始化对 特定外设的操作;每个外设接受操作并做出响应,另外主机也将外设纳入系统的电 源管理体系。Hub 提供扩展 的USB 外设接口,最多可以 级联5 级,最多可以连接 127 个USB 设备。Device 接 受Host 发起的操作,发送或 接收数据。设备可以自供电 或者由主机供电,主机供电 设备最大吸收电流为 500mA 。 上行(Upstream)和下行 (Downstream)分别定义了数 据从外设到主机以及从主机 到外设的方向。 USB 采用4 线结构,分 别为VBUS ,GND,D+, D- 。 图1 所示为高速USB 接口的结构图,差分总线以Rpu 上拉至3

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