南台科技大学化学工程与材料工程所高分子材料特论作业二学生.docVIP

南台科技大學 化學工程與材料工程所 高分子特論 作業(二) 學生: 林安 ma340211 日期:12/1 DSC(熱示差掃瞄分析儀) 　　熱力學的觀點來說，結晶的反向就是熔融，故，結晶度高的樣品熔融反應就會大，所以利用DSC測量結果可以用來判斷材料是不是受過應力的影響而改變了其結晶度。 　　圖一的測試結果中，綠色訊號線為透明的材料，藍色訊號線為經由外力拉扯而變為半透明的材料。 　　　　　　　　　　　此圖為單槽的DSC 上圖為透明材料與半透明材料DSC測試結果比較。 　　由測量結果來看，二者的熔融熱明顯不同，可以證明受到應力的影響會造成材料結晶度的改變；透明的部份就是材料中的不規則相 規則相，所以熔融時產生的能量(熔融熱，△H)會比較小，而Tg點是不規則相移動而產生的相變化，所以透明材料的Tg變化(△H)會比較大；而另一個已經被拉開變成半透明的材料，表示樣品結構可能由不規則相變為規則相(結構比例-不規則相 規則相)，所以會出現 1.Tg變化量變小 2.熔融熱會變大 的狀況。　　有個現象在這個例子裡是沒有看到的，就是升溫結晶現象，升溫結晶其實是有可能會發生的。結晶是結構由不規則相變成規則相的一種相變化，高分子材料在升溫過程中會產生升溫結晶，是一種放熱反應。 透明材料升溫結晶示意圖 半透明材料升溫結晶示意圖 如同上述說明，材料透明表示其中不規則相的比例比規則相來得多，所以在升溫的過程中從不規則相排列到規則相中(比例高向比例低移動)的可能性極高，就容易產生升溫結晶的相變化。而當材料被外部應力拉扯後，材料中結晶的比例變多了，相對的不規則比例變小，所以Tg的變化量就變小，也就較不容易從不規則相?(比例小)的部份排列成規則相(比例大)的部份，故在這種狀況下，即使產生了升溫結晶也是很小的放熱反應?(Peak)不易被發現。假設，測試結果中可明顯看出升溫結晶的反應，則該樣品的結晶度計算公式如下:一般來說，自然狀況下材料中的規則相及不規則相會以最穩定的比例存在，但以現在半透明材料的例子看來，它是因為外力而強迫改變了其比例，故只要經過很長時間之後規則相又會慢慢移動成不規則相。 XRD(射線繞射分析儀) 用XRD主要是用於分析材料結構、顆粒大小及晶格應力。其原理簡單的說就是 X 光撞擊試片後，產生了 X 光繞射。繞射的情形與晶格大小，光的波長，與入射、繞射角度有關，入射光與繞射光的會有光程差，相位一致，光的強度就會加成，反之，則會削落，藉著這樣的關係，我們可以得知材料的晶格種類而算出是哪種元素及元素本身有什麼樣的特性。 Final XRD -- 利用材料晶格與光的關係來探知材料特性 X光，如圖所示，X光射線的穿透能力佳，但因無法利用透鏡原理對X光聚焦，使得X光在影像的解析度無法提升，而較少用於影響觀察用途，但它仍提供繞射X光、光電子、螢光等重要二次粒子訊號，廣泛用於結晶結構與成份分析用 X光繞射分析法的光源為X光射線，X光是一種短波長電磁輻射，其波長約為1A°左右。由於如此波長之電磁波是無法以透鏡聚焦，使得僅能用來分析一較大區域，而獲得一整體平均的結果，然而也因如此，其為提供一非破壞性的分析方式，甚至可在不同的分析條件，如高溫、低溫、真空、高壓……等特殊環境下進行分析工作。如此不但試樣製作容易，也比較能獲得接近其原製造環境或使用狀況下的結果。 X射線的波長在10-8cm（1A°）附近，穿透力大，空間解析度高。利用此光源可以做各種的分析，小至分子中原子的距離、鍵結型態，大至人體各部位的透視，可廣泛應用於材料結晶構造鑑定、醫學及非破壞檢測實務上。由於在材料晶體中，各結晶面間的距離與X光的波長的數量級相當，當X光源照射在一組平行結晶面（hkl）上時，兩鄰近面在入射及繞射光之光程差為波長的整數倍時，會呈現加乘效應，即符合布拉格公式（Braggs law） 2dsinθ= nλ 的關係；其中，d為鄰近平行結晶面（hkl）兩平行面間的距離，θ為入射光與平面的夾角，λ為X光源的波長，n為任意整數。圖4-2是一個單晶繞射的示意簡圖。當光程差是λ的整數倍時，呈現加成效應；而若光程差非λ之整數倍時，視為削減效應。由此，可預期繞射峰另在特定的θ產生。為滿足Bragg繞射公式，必須滿足下列兩個條件。第一、入射光、繞射光與晶體平行面之法線這三個向量需在同一平面。第二、欲測面的法線平分入射光與繞射光的夾角。 XRD做的通常是粉末的晶體繞射譜不是單晶把樣本研磨後壓片此時裡面的細小晶體散亂分布所以可以看到所有的晶面。 儀器裡以單波長的X光照射樣本如左上圖當X光入射角符合布拉格定律時會產生建設性干擾而以相同的出射角發出繞射光。所以當樣本對著光源旋轉時如右上圖,在二倍入射角的地方會有訊號所以偵測計數器以兩倍角速旋轉接收訊號將訊號對二倍入射角做