XRD和XRF组合技术-合金分析仪.PDF

XRD-XRF仪器 BTX•Profiler XRD和XRF组合技术 用于进行全面性材料分析 •• 利用2维传输XRD技术进行矿物学-结晶相分析 •• 利用能量色散XRF技术进行元素分析 •• 数据与结果的整合天衣无缝 •• 节省了操作成本、空间和时间 采用XRD和XRF组合技术的BTX Profiler仪器 用于全面的成份分析 BTX Profiler所使用的创新型XRD技术是美国国家航空 基于NASA和Olympus的专利而创建的BTX Profiler是 航天局成功的火星科学实验室项目中的“好奇”号漫游者 XRD和XRF组合分析技术发展过程中的一大飞跃。BTX 曾经使用过的技术。它所采用的另一种技术是Olympus Profiler将这两种技术结合在一起使用，在结构和元素方 的X射线分析仪所使用的广受赞誉、优质实用的XRF技 面对材料进行全面的组合成份分析，不仅可减少操作成 术。 本、空间和时间，还可使检测数据和分析结果得到天衣无 缝地整合。 NASA和OLYMPUS的技术 由美国航空航天局提供 由美国航空航天局提供 用于高效完成全面材料分析 BTX Profiler将2维传输XRD和能量色散XRF分析性能结合在一起，可以进行全面的材料组成成份分析。包含能量、 地球化学、制药、催化剂、法医学及教育在内的多种工业及科研领域，都是BTX Profiler发挥其高超的无损检测性能 的用武之地。 • 能源勘探 • 假药筛查 • 处女地开采和地质导向钻井 • 药物发现实验室的建设 • 录井 • 催化剂的开发 • 矿物鉴定 • 火灾和爆炸事故的法医取证 • 矿石品位控制 • 腐蚀监控 • 选矿效率 • 教育与科研 2 X射线衍射和X射线荧光组合技术 BTX Profiler可在XRD结构分析（矿物学/结晶相）和 这种技术的开发基于火星科学实验室“好奇”号曾经使用 XRF元素分析应用中发挥业内最先进的性能。要做到这 的获奖专利设计。 点，需要在全面的材料组成成份分析的过程中，选择最 适于具体分析的优化技术，以将仪器的分析性能发挥到 能量色散（ED）XRF分析技术使用一个袖珍X射线管 极致。 的可选、优化的光束路径，以及专用于高级、大区域硅 漂移探测器（SDD）的过滤器。这种技术的开发基于 二维传输（2-D）XRD分析技术将一个微聚焦X射线源与 Olympus的XRF分析仪器所使用的获奖专利设计。 一个高分辨率的电荷耦合器件（CCD）探测器