【2017年整理】数显卡尺的校验程序-质量计量管理.docVIP

数显卡尺试行检定规程 适用于﹑修理后和使用中的分辨率为0.01mm﹐测量范围至500mm的数显卡尺的检定。 检定项目和检定条件 1.? 数显卡尺的检定项目和主要检定工具列表1. 2.? 检定卡尺的窒内温度为20°±5℃。检定前﹐应将被检数显卡尺及量块等检定工具同时置于金属平板或木桌上﹐平衡温度的时间不少于表2的规定。 3.? 检定卡尺的室内相对湿度不超过80%. 检定要求和检定方法 4.? 外观 4.1要求﹕数显卡尺的表面上不应有锈蚀﹑碰伤或其它缺陷。数显窗不得倾斜。玻璃表面应清洁﹑透明﹑无破损和划伤。 表1 序号 检定项目 主要检定工具 检定 类别 新 制 的 修 理 后 使 用 中 1 外观 ── + + + 2 各部分相互作用 ── + + + 3 显示器 ── + + + 4 测量面的表面粗糙度 表面粗糙度比较样块 + + - 5 外量爪测量面的平面度 2级平晶﹔0级样板直尺 + + + 6 外量爪两测量的合并后的间隙 ── + + + 7 圆柱面内量爪的尺寸与平行度 3级或6等时块﹐杠杆式千分尺 + + + 8 刀口内量爪尺寸 3级或6等时块﹐杠杆式千分尺 + + + 9 示值变动性 ── + + + 10 示值误差 3级或6等时块 + + + 11 显示器的示值稳定度 ── + + - 注﹕表中“+”表示应检定﹔“-”表示可不检定。 表2 测量上限 (mm) 平衡温度的时间(h) 置于木桌 置于金属平板 ≦300 2 1 300～500 3 1.5 数显卡尺上应刻有制造厂名(或厂标)﹑出厂编号和各功能按钮的标志。 使用中和修理后数显卡尺不应有影响使用准确度的外观缺陷。 4.2检定方法﹕目力观察 5.? 各部分相互作用 5.1要求﹕尺框和微动装置沿尺身移动时应手感平稳﹑无卡住或松动现象。尺框相对尺身无明显晃动。制动螺钉的作用应可靠。深度尺不允许有窜动。微动装置的空程﹐新制的不应超过1/4转﹐修理后和使用中的应不超过1/2转。 5.2检定方法﹕观察和试验 在检定尺框和微动装置沿尺身移动平稳性时﹐如有异议﹐则在尺框上悬挂砝码对尺框和微动装置沿尺身移动时的相对移动力进行检定。移动力及其变化不大于表3的规定值。 表3 测量范围(mm) 移动力(N) 移动力变化(N) 0～150 2～6 1.5 0～200,0～300 4～8 2 0～500 8～15 3 在检定尺框相对尺身晃动时﹐如有异议﹐则采用下列方法进行检定。 将数显卡尺量爪垂直向上安放﹐并使百分表测头在距离外量爪端面10mm处与外量爪测量接触。然后在接触点附近正反两方向悬挂砝码。百分表上示值的变化量即为晃动量。晃动量应不大于表4的规定值。 表4 测量范围(mm) 0～150 0～200,0～300 0～500 加力值(N) 2 3 4 晃动值(mm) 0.20 0.3 0.4 6.? 显示器 6.1要求﹕在全部测量范围内﹐数字显示均应清晰﹑完整﹑无黑斑和闪跳现象。各按钮功能可靠﹑工作稳定。 6.2检定方法﹕观察和试验。 7.? 测量面的有面粗糙度 7.1要求﹕不大于表5的规定。 表5 (μm) 表面粗糙度(Ra) 内量爪测量面 外量爪测量面 其它测盘面 0.32 0.16 0.63 7.2检定方法﹕用表面粗糙度比较样块检定。有异议时﹐可在表面粗糙检定仪上检定。 8.? 外量爪测量面的平面度 8.1要求﹕不大于0.002mm。 8.2检定方法﹕用2级平晶以干涉法检定﹐或用零级样板直尺以光隙法检定。 用干涉法检定时﹐测量面上应有任意形干涉带。 用样板直尺检定时﹐应在测量面的纵横向中间和两对角线四个方位上检定。如光隙均出现在中间部位或两边部位时﹐则测量面的平面度以最大光隙量确定﹔如光隙在某一方位出现在中间部位﹐另一方位出现两边部位时﹐则测量 的平面度以中间部位最大光隙量与两边都位最大光隙量之和确定。 测量面边缘0.2mm范围允许塌边。 9.? 外量爪两测量面合并后的间隙 9.1要求﹕不大于0.006mm。 9.2检定方法﹕移动尺框﹐使两量爪测量面至手感接触﹐观察两量爪测量面间的间隙﹐以光隙法检定。这一检定应分别在尺框紧固和松开的两种状态下进行。 10.????? 圆柱面内量爪的尺寸及平行度 11.???????? 1要求﹕不超过表6的规定。 表6 (mm) 圆柱面内量爪