论电子测量chapter9.pptVIP

* * 如图9-1-1所示，自动测试系统通常由三大部分以及相互之间的接口组成。主机是整个自动测试系统的核心。主机可以是通用PC、嵌入式控制器或者工作站，与主机相关的显示、打印、存储等设备也属于主机的范畴之内。主机通过专用的测试系统总线与测试仪器连接，在软件或测试程序的支持下实现对仪器的控制，并进一步完成各种测试任务。测试仪器既包括实现测量与分析功能、信号产生功能的常规仪器，也包括实现路径自动切换功能的各类开关，例如多路复用器、矩阵开关、射频开关等。测试仪器通过接卡器与测试夹具与被测单元（UUT，Unit Under Test）实现连接，通常采用插接方式实现。 另一种自动测试系统结构的描述方式，即认为自动测试系统包括三个主要部分：自动测试设备（ATE，Automated Test Equipment），测试程序集（TPS, Test Program Set）和测试环境。自动测试设备包括测试与测量仪器、计算机、开关、通信总线、接卡器和系统软件。其中，计算机实现测试与测量仪器的控制，并执行测试程序；系统软件实现测试平台控制，并提供测试程序开发和执行的环境，系统软件通常包括操作系统、编译工具和测试序列执行软件等。测试程序集包括UUT诊断软件、连接被测单元和ATE的测试夹具、指导操作员如何加载和执行TPS的文档等。测试环境包括ATS架构描述文档、编程和测试规范语言、编译工具、开发工具、UUT设计需求文档、允许TPS软件以最小成本开发的测试策略等。这种自动测试系统组成的描述是从系统在一个较长生命周期内的升级、维护以及成本节约的角度出发来考虑的。 现代自动测试系统具有性能高、可移动、模块化、多用途和标准化等一些特点，在测试系统配置形式、测试仪器和总线类型等方面有多种选择。更重要的是，人们对于自动测试系统的需求也越来越呈现出多样化的特点，测试目标和测试过程日益复杂化，使得单一一种总线技术、简单的系统架构不能覆盖整个自动测试的需求。在这种背景下，自动测试系统开发和集成工作就显得尤为重要。 在自动测试系统的开发和集成工作中，特别是对于大型或者复杂的自动测试系统，应该按照系统工程中系统生命周期模型来指导每个阶段的工作。生命周期模型定义了系统生命周期各个阶段的目标、输入、需求、交付成果以及验证与确认活动。历史上出现了多种生命周期模型，例如“瀑布模型”、“V模型”、“螺旋型模型”等。其中，“V模型”清晰地描述了各阶段的输入、输出以及各阶段之间的信息流，图9-1-2所示是一个“V模型”的典型结构。自动测试系统的开发可以基于该模型来策划相关工作。其中，用户需求和需求分析阶段是自动测试系统开发中最关键的阶段，在此阶段需要明确测试对象，确定目标信号的类型和特征，给出待测参数的定义，开展测试功能分析、可测性分析、测试方法分析等。在需求分析的基础上，形成系统需求规范这个关键的文档。在架构设计阶段，需要综合考虑技术与经济性能的优化匹配，完成硬件体系结构和软件体系结构的设计。其中，硬件体系结构设计包括控制器选型、接口总线分析、硬件体系结构分析等工作，应根据被测信号类型、测试级别等需求选择积木式总线系统（GPIB系统）、模块化系统（VXI、PXI）、网络化系统（LXI）或者混合系统；软件体系结构设计包括软件运行环境分析、操作系统选择、开发平台选择、数据库选择、关键测试算法选择等。在详细设计阶段，需要完成测试仪器模块选择、UUT接口设计、软件模块设计等工作。在实现阶段需要完成具体的硬件、软件开发与调试工作。在“V”模型的右半边则是繁杂而细致的测试、验证与确认工作，需要按照单元测试、集成测试、系统测试、系统确认与交付的流程来完成。 * 在自动测试系统中，总线技术对自动测试系统的发展起着十分重要的作用。作为连接主机与程控仪器的纽带，总线的能力直接影响着系统的总体性能。总线技术的不断升级换代推动了自动测试技术水平的提高。 总线是信号或信息传输的公共路径。在大规模集成电路内的各部分之间、一块插件板的各芯片之间、一个系统的各模板之间以及系统与系统之间，普遍采用总线进行连接。采用总线结构的微机系统、测控和仪器系统与采用非总线结构的系统相比，在系统设计、生产、使用和维护等方面具有很多优越性，包括易于实现模块化硬件设计、拥有多厂商产品支持、便于组织生产、易于实现系统升级、具有良好的可维修性和经济性等。 总线的分类方法很多。按总线应用领域来分，可分为计算机总线、仪器或测控系统总线和网络通信总线。按总线的数据传送方式来分，有并行总线和串行总线，并行总线按一次传送数据的宽度可分为8位、16位、32位和64位总线等。按照总线的用途和应用场合，则可分为片内总线（微处理器芯片内的总线）、片间总线（又称元件级总线，一个微处理器应用系统中连接各芯片的总线）、内总线（又称板级总线，是微机系统内连接各插