高功率半导体量子阱激光器测试中的灾变性损伤-发光学报.PDFVIP

23 5 Vol23 No . 5 2002 10 CHINESE JOURNAL OF LU MINESCENCE Oct. , 2002 : 2002) 高功率半导体量子阱激光器测试中的灾变性损伤 1 2 1 1 1 1 1* 曹玉莲 , 王 乐, 潘玉寨 , 廖新胜 , 程东明, 刘 云 , 王立军 ( 1. , 130022; 2. , 130026) : 808nm , , , , ( SEM) , , , , , , : ; ; : T N2484 : A 1 引 言 2 实验现象