超细地质标准物质及其应用.pdfVIP

自．鞋科荸建展 第16卷第3期2006年3月 309 超细地质标准物质及其应用* 王晓红 高玉淑 王毅民一 国家地质实验测试中心，北京100037 摘要 74 t-m(200目)样品粒度是当今地质分析的一项重要技术基础．文中从实践角度指出了现 代地质分析技术对样品粒度的新需求，并由地质分析样品粒度演化的历史说明了随着分析技术的 不断进步，分析样品粒度阶梯性减小的趋势．从而认为应不失时机地研制超细粒度的地质标准物 质，为研究超细样品条件下的分析技术奠定物质基础、提供评价依据．为此采用超细粉碎技术制备 了一套具有超细粒度的海洋沉积物标准物质系列；并给出了以超细样品粉末直接压片制样，用X 射线荧光法精确测定了海山磷块岩中包括C，F，C1，Br和I在内的主、次、痕量共32个元素的 应用实例．最后讨论了超细标准物质制备及应用可能对地质分析技术未来发展造成的影响——导致 新的地质分析技术体系的产生． 关键词 地质标准物质 超细粉碎 粒度分析X射线荧光 “绿色”分析技术 法和技术体系．这包括：样品的加工及粒度检测、 样品分解、分离富集及测定等等，特别是与此相适 1问题的提出 应的标准物质体系[2’3]．国际上，地质分析样品使 分析样品的粉碎加工和粒度检测是地质样品分 用200目粒度的国家也较普遍，时间也更早，尤其 析过程的第一步，而且是十分重要的一步．其后分 是美国E4,5I．这里特别指出，鉴于当今标准物质在 析过程的任何环节都不会像它那样对分析的全局造 整个分析中的作用，标准物质的各项技术、质量指 成影响口]．一般说来，这项操作是由样品加工人员 标(包括样品粒度)不仅是当时分析技术水平的标 来完成的，分析者大多主要专注于分析方法的研 志，而且在一定程度上会促进或制约相应分析技术 究，而对于分析前的样品加工关注较少．诚然，分 的发展． 析方法是经常在改进和变化着，而样品加工和对分 1．2现代地质分析对分析样品粒度的新要求 析样品的粒度要求在一个时期内却是相对稳定的。 随着现代分析技术的快速发展，200目样品粒 近30年来，对于大多数地质分析样品的粒度要求 度这一技术基础正面临着新技术的严重挑战． 是74 p．m(200目)。 首先是，现代多元素同时分析技术，如X射线 1．1 200目的样品粒度是地质分析的技术基础 荧光光谱(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱 自1975年，西安地质矿产研究所(XIMG)等单 位合作研制中国首批地质标准物质以来，200目这 器中子活化分析(INAA)等自动化程度的提高和在 一样品粒度就成了中国地质分析的重要技术基础． 地质分析中的广泛应用，使分析过程中发生粗大误 在此基础上，逐步形成了中国地质分析的一系列方 差(人为误差)的机率已极小．分析总误差主要由方 ÷ 2005—07—13收稿，2005—10—20收修改稿 *科技部“中央级科研院所科技基础性工作专项资金”资助项目(批准号：2001DEB20054) **通讯作者，E-mail：wirma@ht．r01．crl．net 310 自监科荸连展 第16卷第3期2006年3月 法误差和样品本身的不均匀误差(以下称为“样品 误差”)构成． 在地质标准物质研制中，用高