用2600系列数字源表进行iddq测试和待机电流测试-东方集成.pdf

引言 CMOS IC的IDDQ测试 CMOS集成电路（CMOS IC）和电池供电产品的制造商需 测试介绍 要测量静态（或“待机”）电源电流用于验证生产测试质量。 此测试涉及在输入端处于VDD或VSS并且输出端未连接时， CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏电电流测量过程被称为 测量CMOS IC的VDD 电源耗电流。图1是一个CMOS反相器的测试 IDDQ测试。此测试要求在IC处于静态条件下测量VDD 电源电流。 设置框图。在这个例子中，2601/2602用于源电压（VDD ）并 测试的目的是检查栅氧化层短路及可能随时间导致IC失效的 测量产生的静态电流。 其它缺陷。同样地，带有双极晶体管的电池供电产品或其它 IC的电源电流也可以在静态模式下测量。这些产品类型包括 便携式电池供电的消费性电子产品，例如移动电话、寻呼机 和笔记本电脑，以及可植入的医疗设备，例如心脏起搏器和 除颤器。这些测试的目标是在给定电池充电电平和工作质量 条件下确保产品满足消费者对更长工作时间的要求。测试必 输入 输出 须尽快完成以确保吞吐量符合要求，而且测试必须全面以确 保产品质量。 在选择执行这些测试的测量仪器时，两项最重要的考虑 是速度和准确度。但是，在测量小电流时，有时必须在速度 和准确度两者间做出取舍，所以通常需要用定制硬件完成这 些测试。定制硬件的设计时间可能很漫长而且一般不容易维 护，而商购的测试系统通常易于使用、容易买到而且节省机 图1. 测量一个CMOS反相器的静态电流 架空间。 虽然这个例子示出的IC只有一个栅极，但是许多IC具 有数以千计的栅极。因而，通常要使用预定的一系列测试 另一篇吉时利应用笔记（#804）介绍了如何用2400系列 向量（即施加至输入端的逻辑1和0的模式）减少静态电流 源表执行IDDQ测试和静态电流测量。本应用笔记介绍了如何用 的测量次数，并且必须保证全部栅极都被切换或者所需IC 吉时利最新的2600系列源表实现上述测试。这种新一代源表 逻辑状态都经过测试。 的产品系列包括单通道2601和双通道2602。由于具有内建测 在整个测试中对IC的VDD引脚施加恒定电压使IC保持在工 试脚本处理器（TSPTM TM 作状态。一个好的CMOS器件仅在开关时从VDD 电源消耗大电流； ）和新的仪器间通信接口（TSP-Link ）， 2600系列仪器比前几代源表的功能更强大和更灵活。吉时利 在静态条件下的耗电流极低。与涉及的缺陷类型有关，一颗