扫描链故障确定性诊断向量生成算法-计算机体系结构国家重点试验室.pdf

第21卷第1期 计算机辅助设计与图形学学报 V01．21，No．1 2009年1月 JOURNALOFCOMPUTER—AIDEDDESIGNCOMPUTERGRAPHICSJan．，2009 扫描链故障确定性诊断向量生成算法 王 飞h2一’ 胡 瑜1’趵 李晓维1’2卜 ¨(中国科学院计算机系统结构重点实验室北京 100190) 2’(中国科学院计算技术研究所北京100190) 3’(中国科学院研究生院北京100049) (wang—fei@ict．ac．en) 摘要扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法，是提高测试质量的有效手段．但由于扫描链及其控 制逻辑可能会占到整个芯片面积的30％，因此扫描链故障导致的失效可能会达到失效总数的50％．提出一种扫描链 故障确定性诊断向量生成算法：首先建立了诊断扫描链故障的电路模型，利用该模型可以采用现有固定型故障测试 生成工具产生扫描链诊断向量；然后提出一种故障响应分析方法，以有效地降低候选故障对的数量，从而在保障诊 断质量的前提下减少诊断向量数目，缩短了诊断过程的时间．实验结果表明，在测试诊断精确度、故障分辨率和向量 生成时间方面，该算法均优于已有的扫描链诊断向量生成方法． 关键词大规模集成电路测试；扫描链；故障诊断；向量生成 中图法分类号TP391．76 for DeterministicPatternGenerationScanChainFaults Diagnosis Feilt2t3’Hu Wang Yul·2’LiXiaoweil·2’’ andArchitecture，Chinese 100190) ”(KeyLaboratoryofComputerSystem AcademyofSciences。Beijing 2’(Institute 100190) ofComputingTechnology，ChineseAcademyofSciences，Beijing ”(Graduate Chinese 100049) Universityof AcademyofSciences，Beijing AbstractScanisa used to testand technique diagnosis widely design—for-testabilityimprove data thatscanchainanditscontrolcouldtakeasmuchas30％ quality．Recentindustryreports logic account this siliconarea，meanwhile，thescanchainfailures foralmost50％of failures．In chip paper， we adeterministicscanchain circuitmodel proposed diagnosispatterngenerationalgorithm．Firstly，a isbuiltforseaRchainfault onthis stuck—atfault model，anyexisting patter