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ICP(PPB)比較準而且一次可分析多樣元素，ICP比較貴喔！配上MS更貴 AA(PPM)比較便宜所以大多企業都用AA，不只火燄式還有石墨式感應耦合電漿原子發射光譜法 一、 方法概要 　　本方法利用連續式或同時式感應耦合電漿原子發射光譜儀，搭配側向(Radial/Side-on)或軸向(Axial/End-on)之譜線觀測，來進行樣品中多元素的測定。樣品經霧化後，所形成的氣膠(Aerosol)藉由載送氣流輸送至電漿焰炬，經由無線電波(Radio-frequency)感應耦合電漿的加熱，將各待測元素激發。由各激發原子或離子所發射出的光譜線，經由光柵(Grating)分光，分解出各特定波長的發射譜線。各譜線的強度，再由光檢器(Photosensitive devices)予以偵測。　　本方法具有快速、靈敏及精密的分析特性。量測時，為補償因光譜背景值之不同所導致的誤差，應針對背景值進行修正。背景發射譜線強度量測位置的選擇，以選用分析譜線單側或雙側的位置為原則；基本上係視分析譜線附近之背景譜圖的複雜程度來決定。對於所選用的量測位置，必須儘可能避免其它光譜性的干擾，以及具有與分析譜線位置相同的背景干擾程度者為準。另外，針對譜線重疊的問題，可選用多重變數校正法(Multivariate calibration methods)來進行背景干擾的修正，唯在此方法中，其背景值修正的方法，係以全光譜的變化情形來進行運算，因而並不需再利用待測譜線附近的背景值進行干擾校正的工作。然而，必須注意對於分析譜線變寬的現象，是無法經由背景修正的方式來予以補償(若利用上述背景值校正的方式進行背景值修正，則將造成分析結果準確度變差的問題)。　　 利用本方法進行複雜樣品基質的檢測時，應特別注意檢測過程中是否發生加成性干擾(Additive interferences)及相乘性干擾(Multiplicative interference)，分析人員應於分析樣品前，利用本方法中提供之各項干擾確認方法，事先確認是否有發生干擾效應，並針對所遭遇的干擾問題，研擬一適當的修正對策，以求得正確的檢測結果。　　在進行光譜測定之前，待測樣品必須先予以溶解，或採用適當的樣品處理方法進行消化處理。唯當欲對地下水樣中之溶解性成份分析時，若該樣品已預先經過濾或酸化處理，則可省略再予消化處理的步驟。　　樣品在分析前，需以適當的方法將樣品溶解或消化。方法參見本署公告之「事業廢棄物檢測方法總則」、「土壤檢測方法總則」及「重金屬檢測方法總則」。二、 適用範圍 (一) 本方法可應用於下表所列之各元素的分析測定。唯在進行樣品分析之前，所有的水溶液或固體基質樣品，都需經適當的酸消化方法處理；對於已經過濾和酸化處理的地下水樣品，則不需再利用酸消化步驟進行樣品的前處理。對於基質複雜的樣品而言，通常可採用稀釋法、內標準法或基質匹配法(matrix-matched)，進行定量測定的工作。不論檢測過程是採用前述任一基質干擾之校正方法進行定量工作，所使用之儀器必須具備適當的軟體，針對待測樣品和標準品中所量測到之內標準元素訊號的差異進行修正。元素 符號 CAS 號碼元素 符號 CAS 號碼鋁Al 7429-90-5汞Hg 7439-97-6銻Sb 7440-36-0鉬Mo 7439-98-7砷As 7440-38-2鎳Ni 7440-02-0鋇 Ba 7440-39-3磷P 7723-14-0鈹Be 7440-41-7鉀K 7440-09-7硼B 7440-42-8硒Se 7782-49-2鎘Cd 7440-43-9二氧化矽SiO2 7631-86-9鈣Ca 7440-70-2銀Ag 7440-22-4鉻Cr 7440-47-3鈉Na 7440-23-5鈷Co 7440-48-4鍶Sr 7440-24-6銅Cu 7440-50-8鉈Tl 7440-28-0鐵Fe 7439-89-6錫Sn 7440-31-5鉛Pb 7439-92-1鈦Ti 7440-32-6鋰Li 7439-93-2釩V 7440-62-2鎂Mg 7439-95-4鋅Zn 7440-66-6錳Mn 7439-96-5(二) 對汞、硒或其他元素，若所使用的儀器技術無法達到如表一所示之方法偵測極限或法規所要求之管制濃度時，則必須經適當的樣品前處理後，再行測定；或徵詢儀器廠商購置效率較高之樣品導入裝置 (例如超音波霧化器、硒化氫產生器或冷蒸氣汞原子產生器等)，以提升偵測能力。唯在使用該類裝置時，需先完成該方法之驗證程序後，始得進行樣品之分析。 (三) 表一中所列示各元素建議使用的波長及儀