第08章 TR6850系统介绍.pptVIP

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2017-09-13 发布于北京
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第08章 TR6850系统介绍.ppt

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TR6850系统介绍 TR-6850测试系统是针对电源管理和混合信号的集成电路测试所特别设计。最多可达256个数字通道，测试速度33MHz,8M的pattern深度。专属运放电路测试模组。 16位元任意波形产生器/波形数位器。能符合多元产品测试需求。结合微软Visual Studio.NET开发工具以C++语言开发测试程式，并提供丰富的除错与分机工具。 System Architecture Up to 8-Site Parallel Testing Cable Out Maximum 256 Logic I/O Channels High Precision Measurement Unit Arbitrary Waveform Generator Digitizer Low Cost Mixed Signal Tester System Architecture Test Head Architecture Targeted Applications For Digital, Analog and Mixed Signal Device MCU , Interface / Driver … Digital Chip AD Converter , DA converter Voltage Comparator Operational Amplifier Regulator – Shunt/Voltage Regulator, LDO… Targeted Applications Hall Sensor PWM Switching , PWM Controller Power Factor Control IC DC to DC converter Detector, Voltage Detection MOSFET - - - - PC Interface Digital Module Electrical Specifications AC64/AC32 – 64 /32I/O Channels Board Pin Configuration( I/O Channel) : 64 /32pins Parametric Measurement Unit : 4 Sets ( 8-pin share) Pin Level Source : Per pin level set Driver Voltage Range : -2.0V to +8V Comparator Voltage Range : -2.0V to +8V Min. Pulse Width : 10ns Micro Instruction : CALL, MATCH,MPAT,MLEN RPT,LOOP,LPEND,STOP,TS ? Electrical Specifications AC64/32 – 64/32 I/O Channels Board – continue Min. Period : 30ns ~ 40ms Period resolution : 10ns Data Rate : 33MHz ?Timing Generators : 4 edge / Pin Timing Set : 16 change on the fly Edge Placement resolution : 2.5ns Time Measurement Resolution : 10ns Electrical Specifications AC64/32 – 64/32 I/O Channels Board – continue Drive Mode : 0,1,NF,NRZ,RZ,RO,SBC IO Mode : 0,1,NF Strobe Mode : Edge/Window ?Pattern Memory Depth : 4M~8M ?Fail Memory Depth