FT-IR取样技术附件选择与应用新国科技(股)公司-化工与材料工程系.PDFVIP

FT-IR 取樣技術/附件選擇與應用 新國科技 股( )公司 黃曉瑜 / 0939-332-753 kimhuang@scinco.tw FT-IR取樣技術的基本原理 Attenuated Total Reflectance衰減式全反射） Transmission （穿透式） Spectular Reflectance(鏡面反射） Grazing Angle （飛行角） Reflection Absorption （反射吸收） Diffuse Reflectance （散射反射） 2 用 FT-IR解決問題 ‧樣品形態為何? –固體 –塗層 –液體 –氣體 ‧混合物 ‧樣品大小? –大塊樣品 –小顆粒 ‧樣品數量 3 ‧定性 ? 定量 ? 樣品偵測方式 ‧穿透式 ‧反射式 4 偵測方式 -1 ‧穿透式 –固體 –液體 –粉體 Is Io 偵測器 光源 –氣體 5 穿透式-固體 •固體 –可以溶劑將樣品溶解製成薄膜後， 置於樣品槽上直接進行量測。 – 樣品以適當的溶劑溶解後，以取樣 針將樣品溶液滴在KBr鹽片上，進行 定性或定量之實驗 • 應用 : –高分子聚合物 – Si或 Amide的定量 6 Universal Film Maker(ufm) • 分析目的 – 定量分析 • 樣品因素 – 直徑20mm – Space Ring: 15um,25um,50um,100um • 最佳化 –可補強以 ATR量測感度之不足 • 溫度最高可達 300oC 7 Polymer Additive Amide I 1.0 0.8 e c n a b r o 0.6 s