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AFM_handbook_Chinese原子力显微镜操作手册
NanoWizard® AFM
使用指南
对应英语版本 Version 2.2a ，中文版本0.1
07 / 20 13
© 2004-2012 JPK Instruments AG
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目录
1. 简介 1
1.1 关于这本手册 1
1.2 什么是原子力显微镜？1
1.3 扫描探针显微镜 2
1.4 原子力显微镜 3
1.5 AFM 微悬臂 4
2. 成像模式 6
2.1 反馈与成像控制 6
2.2 动态模式中的振幅反馈6
2.3 另一种分类成像模式的方式 7
2.4 操作方式9
2.5 相图（phase imageing ） 10
2.6 成像模式中的力的调节 11
2.7 一些应用 12
3. 力谱（force spectroscopy ） 13
3.1 简介 13
3.2 数据处理 15
3.3 一些应用 17
4. 关于微悬臂更多内容 20
4.1 通用的信息 20
4.2 使用方面的信息 20
4.3 不同成像模式所使用的微悬臂类型 21
4.4 针尖修饰 23
4.5 弹性常数 23
5. 细胞成像 25
5.1 AFM 和其他细胞成像技术的关系 25
5.2 样品准备 26
5.3 成像模式 28
5.4 决定性的成像参数 29
5.5 使用示波器来优化成像参数 30
5.6 假象 31
6. 单分子成像 32
6.1 样品的准备是关键 32
6.2 成像提示——液相下的间歇接触模式 34
JPK Instruments NanoWizard® 使用指南 Version 2.2a 1
6.3 成像提示——液相下的接触模式 35
6.4 成像提示——空气中的成像 36
6.5 成像测试用简单 DNA 样品方案 36
7. 假象 38
7.1 针尖形状问题 38
7.2 针尖损伤导致的假象 39
7.3 污染物 40
7.4 其他成像中考虑的因素 40
8. SPM 领域中有益的物理知识 42
8.1 微悬臂共振42
8.2 热噪声法校准弹性常数 42
8.3 材料的杨氏模量 45
9. 有用的化学品和样品/针尖制备方法47
9.1 清洁微悬臂和针尖 47
9.2 硅烷化和 APTES 处理 48
9.3 微悬臂储存用自制凝胶盒49
9.4 AFM 用附件的供应商 49
10. 参考文献 51
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