基于近场散射的颗粒粒径分布测量.pdfVIP

2017 2017年2月 北京航空航天大学学报 February of andAstronautics V01．43No．2 Journalof Aeronautics 第43卷第2期 BeijingUniversity jhuaa@buaa．edu．erl http：／／bhxb．buaa．edu．cn DOI：10．13700／j．bh．1001—5965．2016．0110 基于近场散射的颗粒粒径分布测量 谭浩，许传龙+，张彪，王式民 (东南大学能源与环境学院能源热转换及其过程测控教育部重点实验室，南京210096) 摘 要：针对传统的前向小角散射粒径测量系统中心光过强、杂散光干扰、散射角过 小等缺点，本文采用一种新型的近场散射(NFS)方法测量前向小角散射光，研究并搭建了基于 近场散射的颗粒粒径测量系统，将最大散射角提高到40．5。；在无需空白测量的情况下采用差 分方法对透射光和散射光干涉成的散斑图像进行处理，有效去除中心光和杂散光的影响；对差 分散斑图像进行快速傅里叶变换(FFT)频谱处理得到散射光强分布，利用Chahine算法对颗 粒粒径进行了反演。最后，利用已知粒径(39．2Ixm和67．3Ixm)的标准颗粒对测量系统的准 确性进行了单峰分布的验证，测量误差在5％之内；对于粒径为39．2斗m和67．3斗m的混合颗 粒进行了双峰分布验证，在43．3¨m和74．1txm处出现峰值，测量误差在10％左右。 关 键 词：粒径测量；近场散射(NFC)；差分散斑；快速傅里叶变换(FFT)；Chahine算法 中图分类号：0436．2 文献标识码：A 文章编号：1001—5965(2017)02．0381—07 颗粒粒径及分布是目前颗粒测量的主要内容 来越困难，主要原因是中心光过强和小角度下杂 之一‘1。。颗粒粒径的测量方法发展至今已有很 散光的严重干扰，造成信噪比不高¨…，这在基于 多，早在20世纪80年代，各种颗粒测量仪器已达CCD的前向小角散射颗粒测量技术最为明显。 400多种。就其测量原理，可分为筛分法、显微镜 而大多数采用的解决方法主要是在保证光路绝对 法、沉降法、电感应法及光散射法等。在颗粒粒径 对准的情况下，用针尖等装置去除中心光强；或进 的众多测量方法中，光散射法以其特有的优 行空白测试获取背景光强，采用直接做差的方法 势——适用性强、粒径测量范围宽、测量重复性 去除背景杂散光。前者方法会使测量装置复杂 好、快速实时、自动化和智能化程度高、干扰因素 化，而且存在针尖衍射，会影响实际的散射信号； 少及在线测量等得到充分重视，是目前应用最广 后者方法中因中心光、散射光和背景杂散光这三 泛和最有发展前景的颗粒测量技术。21。 者之间并不是简单的数值相加，直接做差容易使 De— 散射信号丢失，从而导致反演精度较低。 近年来，电荷耦合器件(ChargeCoupled Filed vice，CCD)图像传感器技术飞速发展，因其像素近场散射(Near 尺寸小，空间分辨率高，光电灵敏度高，易与计算 服了基于CCD的前向小角散射系统中的一些缺 机相结合，数字扫描能力强，体积小重量轻，安装 陷”1：在无需添加去除中心光的复杂装置的情况 方便等优点使得使用CCD代替传统的光电探测 下，使系统设备简单紧凑，可以实现被测颗粒粒径 器采集散射信号具有较大的应用前景。但随着散 及分布的测量；不需要任何角分辨检测，扩展了散 射角