.双向可控硅不同象限触发方式可靠性探究.pdfVIP

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2017-10-15 发布于上海
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电子产品可靠性与环境试验可靠性与环境试验技术及评价 Vol．２6 Ｎo．5 Oct., 2008 ＥＬＥＣＴＲＯＮＩＣＰＲＯＤＵＣＴＲＥ LＩＡＢＩＬIＴＹＡＮＤＥＮＶＩ RＯＮＭＥＮＴＡＬＴＥＳＴＩＮＧ年月第卷第期２００8 10 26 5 双向可控硅不同象限触发方式可靠性探究 1 1 1 1 2 2 郭伟谢劲松孙晓君何晶靖石均姜德志，，，，，北京航空航天大学可靠性工程研究所北京（1. ， 100083；青岛海尔智能电子有限公司山东青岛 2. ，， 266072 ）摘要针对双向可控硅在不同触发象限条件下的触发特性进行了实验研究考察了可控硅在上述条件下的不：，同触发特性明确了各种象限触发之间的特性差异并重点通过对上述各种触发情况进行建模解释了，， pspice ，实验中所观察到的可控硅在不同象限情况下存在触发特性差异的原因为后续的不同象限触发对于可控硅的使。用可靠性和寿命影响的研究提供了理论和试验依据。关键词可控硅触发象限电路仿真失效：；；；中图分类号： + 文献标识码：文章编号：（） TN342 .2 A 1672-5468 2008 05-0039-06 TRIAC Trigger Characteristics of Different Quadrants 1 1 1 1 2 2 GUO Wei ， XIE Jin-song ， SUN Xiao-jun ， HE Jing-jing ， SHI Jun ， JIANG De-zhi （1. Institute of Reliability Engineering ， Beijing Univ of Aeronautics and Astronautics ， Beijing 100083， China ； 2. Qindao Haier Zhineng ， Electronic Co. ， Ltd. ， Qindo 266072 ， China ）