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AN-1109_cn iCoupler器件的辐射控制建议
AN-1109
应用笔记
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iCoupler器件的辐射控制建议
作者：Brian Kennedy、Mark Cantrell
简介 将阐明相关辐射机制，并提供有关通过高频PCB设计技术
如果PCB设计选择得当，iCoupler®数据隔离产品很容易满 来解决辐射问题的具体建议。
足CISPR 22 Class A(和FCC Class A)辐射标准，甚至能够满
信号电缆的辐射控制和机壳屏蔽技术不在本文讨论范围
足更严格的无屏蔽环境CISPR 22 Class B(和FCC Class B)标
内。
准。本应用笔记将考察与PCB相关的抗电磁辐射技术，包
括电路板布局和堆叠问题。 抗电磁辐射概述
抗电磁辐射的最佳做法是综合运用多种技术，包括输入至
关于辐射的标准有多种。在美国，联邦通信委员会(FCC)
输出接地层拼接电容、边缘防护，以及通过降低电源电压
负责管理辐射标准及测试方法。在欧洲，国际电工委员会
来降低噪声。为了撰写本应用笔记，我们用业界常规材料
(IEC)制定标准，采用CISPR测试方法来评估辐射。这两种
和结构设计并制作了一个4层电路板。
标准规定的测试方法及合格/不合格界定稍有不同。虽然本
应用笔记参照IEC标准，但所有结果对这两种标准均适 本应用笔记所用的抗电磁辐射实例基于4通道iCoupler产
用。 品，但所述信息与所有iCoupler产品系列都相关，图1给出
了一些例子。
iCoupler数字隔离器输入端的数据跃迁编码为较窄的脉
冲，用以将信息发送到隔离栅的另一端。这种1 ns脉冲具
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