表面缝隙场分布及交叉极化方向图分析-易迪拓培训.PDFVIP

北京大学学报(自然科学版)，第40卷，第3期，2004年5月 ActaSciemianJmNaturaIium univ∞imi8 Pekinen8is，vol加，N0．3(May，2004) 单轴各向异性背腔式微带贴片天线的 表面缝隙场分布及交叉极化方向图分析¨ 班永灵 周乐柱 于哲峰 王 湃 (北京大学信息科学技术学院电子学系。北京，100盯1) 摘要为了研究单轴介质基片的各向异性性质对微带贴片天线辐射特性的影响，采用矢量有限 元．边界积分法(Edge-Ba8edFEM-BI)对填充单轴各向异性介质的背腔式徽带贴片天线表面缝隙部 分的切向电场分布及交叉极化方向图进行了计算及分析。计算结果表明仅当单轴介质的光轴枯 贴片的法向方向(；轴)时，填充不同的单轴介质才会影响徽带天线的场分布及最大交叉极化电平 值，而当光轴沿*轴、y轴时，其影响可以忽略。 关t词单轴各向异性；背腔；擞带贴片天线；方向图；有限元 中圈分类号删822．4 O引 言 对微带各向异性基片的研究兴趣主要来源于两点：一是…实际应用中的许多介质基片都 具有各向异性的性质，而这对印刷电路和天线的性能有着极大的影响，因而对印刷电路和天线 精确的分析和设计必须考虑这种影响；二是这种介质基片在印刷电路和天线中的使用可能具 有潜在的优势，这方面的一个例子”1是在微带定向耦合器件中使用各向异性基片成功地得到 了奇筷和偶模相同的相速。D““通过计算雷达散射截面Rcs最早分析了单轴电介质基片 对矩形微带贴片天线的影响，后来不少文献““1分析了单轴电介质矩形微带贴片天线的谐振 频率的偏移效应，但对辐射特性交叉极化方向图研究的文献则很少，特别是带有背腔结构的微 带天线。上述这些文献都是采用谱域导抗法，先是导出相应的积分方程，再用矩量法解之。 背腔贴片天线辐射的主要来源是贴片与腔壁之间的缝隙场(又称口面场)分布。这种天线 的分析难度在于必须结合腔内外结构才能给出精确的场分布，从而计算出天线方向图。而解 决此类复杂结构的辐射问题正是本文采用的矢量有限元．边界积分混合方j去的优势，腔内的场 由有限元给出，由边界积分方程给出的缝隙部分的场自动满足索莫非辐射条件。本文采用此 方法针对填充单轴各向异性电介质的背腔微带贴片天线计算了其表面缝隙部分的切向电场分 布及交叉极化方向图。 1)国家自然科学基金(600710167)、教育部博士点基金(200l。0叭037)资助项且 收稿日期：2003—阱-28；惨回日期：2∞3-05．¨ 万方数据 第3期 班永灵等：单轴各向异性背腔式微带贴片天线的表面缝隙场分布及交叉极化方向图分析 1 FEM·BI公式 Edge-B嬲ed 所考虑的微带贴片天线的一般结构如下图，在一导电板上加工出一矩形凹槽，使微带贴片 的基片正好坐落在凹槽内。 Z ^ 燧。 田l背腔徽带贴片天线结构 8咖ctu陀0f Fig．1Geome廿y cavi妒hckedmjcros试p舯tch卸tenm 腔体内及表面缝隙s。上的场可通过下述变分问题求得 在导电壁上。