镀层测厚仪规格书.pdf

HeLeeX E3-3D 规格书 SPECIFICATION 能量色散X 射线荧光光谱仪 Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer 深圳市禾苗分析仪器有限公司 Shenzhen Heleex Analytical Instrument Co.,Ltd.  仪器重量：60kg  供电电源：AC220V/ 50Hz  最大功率：330W  工作温度：15-30 ℃  相对湿度：≤85%，不结露  HeLeeX E3-3D 简介： HeLeeX E3-3D 是一款高性能能量色散型X 射线荧光光谱仪（EDXRF)，在仪 器结构、功能、软件上都进行了全面优化。采用小光斑设计，针对各种PCB 板、 插针等样品的小测试点精确定位，避免材质干扰；双 C 型样品仓设计，X 射线下 照式，激光对焦精确定位，对于大型、异形不平整样品，无需拆分，可直接测试； 全自动化样品台设计，仪器操作更简单。  应用领域： 各种PCB 板 常见镀层 中镀层测试 各种接插件 常见镀层 中镀层测试 五金行业镀 常见镀层 层测试 其它类型样 品镀层测试 常见镀层 - 1 - 1、 仪器特点 1.1 全自动化样品台 三维 X 、Y 、Z 步进电机 控制系统，结合摄像头管 理，通过软件控制实现样 品移动。 1.2 X 射线下照式，激光对焦 X 射线下照式设计，激光对焦，对于形状不规则样品，无需拆分，可直接测试。 - 2 - 1.3 小光斑设计 最小光斑仅 0.1mm ，可对小测试点精确定位，避免干扰；可根据客户需求，快速选 配Φ0.1mm 、Φ0.3mm、Φ0.7mm 、Φ3.0mm 准直器。满足样品中不同大小点测试需 求。 1.4 测试时间灵活性调节 不同材质类型的样品所需要的最佳测量时间不同，可根据样品类型及客户对精度的 要求设置测量时间的长短。常规镀层测试最外层误差优于±5%，次外层优于±10%。 - 3 - 1.5 多规格样品仓 多种样品仓尺寸，满足各种规格样品测试需求！ 独创双C型样品仓设计， 可测试无限宽、高样品。  Large: 外形尺寸 ： 800mm×360mm×545mm(H)