2009年第十章 透射电子显微镜.pptVIP

1.电子枪 1）斑点花样：平行入射束与单晶作用产生斑点状花样；主要用于确定第二象、孪晶、有序化、调幅结构、取向关系、成象衍射条件；2）菊池线花样：平行入射束经单晶非弹性散射失去很少能量，随之又遭到弹性散射而产生线状花样；主要用于衬度分析、结构分析、相变分析以及晶体的精确取向、布拉格位置偏移矢量、电子波长的测定等； 3）会聚束花样：会聚束与单晶作用产生盘、线状花样；可以用来确定晶体试样的厚度、强度分布、取向、点群、空间群以及晶体缺陷等。 * 第十章 透射电子显微镜 本章要点: 1.电子光学显微镜的分类，4类电子光学显微镜的特点 2.透射电镜主要结构、其电子光学系统的组成 3.透射电镜的聚光镜、物镜和投影镜的特点和作用★ 4.透射电镜的三个光阑的特点和作用★ 5.透射电镜具体的工作模式和特点★ 电子光学显微镜 透射电子显微镜TEM，Transmission Electron Microscope 扫描电子显微镜（SEM，Scanning Electron Microscope) 电子探针显微分析（EPMA，Electron Probe Micro-Analysis） 扫描透射电子显微镜（STEM， scanning and Transmission 　 前言—— 四类电子光学显微镜的特点 　 Electron Microscope) 1）透射电子显微镜（TEM) 是采