x射线荧光光谱分析(第3-4节).pptVIP

图6－17（02） 一个青铜器件的定性扫描图[LiF(200)] ① 图6－17上，强度最大的峰的2θ位置的角度为45.03°, 查“2θ－谱线表”，它是CuKα线； ② 在“谱线－2θ表”上查出Cu的CuKβ线和CuKβ、CuKα的二次线的2θ角度分别为：40.45°、87.50°和99.96°，在扫描图(图6—17)上将它们找出来； ③ 图6—17上，剩下峰中强度最大的峰的2θ位置的角度为14.04°, 查“2θ—谱线表”，它是SnKα线； ④在“谱线—2θ表”上查出Sn的SnKβ、SnLα、SnLβ1、SnLβ2、SnLβ3和SnLγ1线的2θ角度分别为：12.43°、126.77°、114.41°、104.09°、110.37°和96.37°，在扫描图(图6－17)上将它们找出来； …… * 对于轻元素，各元素的谱线相隔较远，强度较弱，用粗狭缝，来提高X射线强度。一般仪器上，第一狭缝都有粗、细各一个，根据被测元素来选择其中一个。 α 2α d L 图6—13 Solar狭缝 6) 脉冲高度分析器： 脉冲高度分析器的作用是把从探测器出来经过放大以后的信号脉冲，选取一定范围的脉冲高度，将分析线脉冲从某些干扰线(如某些谱线的高次衍射线、晶体荧光、或待测元素特征谱