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IC设计器件物理基础
第二章 MOS器件物理基础 授课教师:鲁文高 Email: wglu@pku.edu.cn 本讲内容 基本概念 结构、符号 I/V特性 阈值电压 I-V关系式 跨导 二级效应 体效应、沟道长度调制效应、亚阈值导电性 器件模型 版图、电容、小信号模型等 MOSFET的简化模型 MOSFET的结构(1) MOSFET的结构(2) MOSFET的符号 本讲内容 基本概念 结构、符号 I/V特性 阈值电压 I-V关系式 跨导 二级效应 体效应、沟道长度调制效应、亚阈值导电性 器件模型 版图、电容、小信号模型等 MOSFET沟道的形成过程 阈值电压 MOSFET的I-V特性(1) MOSFET的I-V特性(2) 深线性区MOSFET等效为电阻 饱和区MOSFET(1) 饱和区MOSFET(2) PMOS 跨导(1):饱和区 跨导的三个表达式 跨导(2):线性区 饱和区条件 本讲内容 基本概念 结构、符号 I/V特性 阈值电压 I-V关系式 跨导 二级效应 体效应、沟道长度调制效应、亚阈值导电性 器件模型 版图、电容、小信号模型等 体效应 体效应的影响(1) 体效应的影响(2) 利用体效应工作的电路实例 沟道长度调制效应(1) 沟道长度调制效应(2) 沟道长度调制效应(3) 亚阈值特性(1) 前面的分析 VGSVTH:反型 VGSVTH:截至 VGS?VTH:??? 真实的情况 VGS?VTH:弱反型区,存在源漏电流 VGSVTH:漏电流并非无穷小 这种效应成为“亚阈值导电” 亚阈值区也称弱反型区 亚阈值特性(2) 亚阈值特性(3) 本讲内容 基本概念 结构、符号 I/V特性 阈值电压 I-V关系式 跨导 二级效应 体效应、沟道长度调制效应、亚阈值导电性 器件模型 版图、电容、小信号模型等 MOS器件版图 MOS电路版图:器件及互连 MOSFET的电容 分析MOS管交流特性时必须考虑电容影响 MOS管中的电容 寄生电容往往随偏置电压的变化而变化 EDA工具在寄生参数提取时会自动提取每个节点精确的寄生电容值 减小MOSFET的寄生电容 MOSFET的电容:截至区 MOSFET的电容:饱和区 MOSFET的电容:深线性区 MOSFET大信号和小信号模型 大信号模型 由I-V特性关系式、CGS等电容的电容值构成 小信号模型 gm、 gmb、rO等 高频时应考虑寄生电容 MOSFET小信号模型(1) VBS=0时的低频小信号模型 用于计算输出电阻、低频小信号增益 MOSFET小信号模型(2) MOSFET小信号模型(3) 考虑衬偏效应时的低频小信号模型 用于计算输出电阻、低频小信号增益 MOSFET小信号模型(4) MOSFET的寄生电容 MOSFET的截至频率fT 高增益vs高速 常用的表达式 MOS小信号模型中的电阻 通常忽略 合理设计版图能减小电阻 折叠结构 减小栅电阻! 减小漏电容! 完整的MOSFET小信号模型 用于计算各节点的时间常数 找出极点 MOSFET的SPICE模型(1) 模型精度决定电路仿真精度、速度 最简单的模型——Level 1,适于手算 MOSFET的SPICE模型(2) VTO:VSB=0时阈值电压 GAMMA:体效应系数? PHI:2?F TOX:栅氧厚度 NSUB:衬底掺杂浓度 LD:源漏扩散长度 UO:沟道迁移率 LAMBDA:? CJ:单位面积底部电容 CJSW:单位长度侧壁电容 PB:源漏结内建电势 MJ:CJ式中的幂指数 MJSW:CJSW式中幂指数 CGDO:单位宽度的栅漏覆盖电容 CGSO:单位宽度的栅源覆盖电容 JS:源漏结的单位面积漏电流 NMOS管与PMOS管的比较 在大多数工艺中,NMOS管性能比PMOS管好 迁移率约3:1,NMOS具高电流驱动能力,高跨导 相同尺寸和偏置电流时,NMOS管rO大,更接近理想电流源,能提供更高的电压增益 对nwell 工艺,用PMOS管可消除体效应 独占一个阱(面积大) 根据实际需求选择NMOS或PMOS 长沟道器件和短沟道器件 前面分析针对长沟道器件(4?m以上) 对短沟道器件而言,关系式必须修正 用简单模型手算:直觉,确定调整区域 用复杂模型仿真:精确,确定具体参数 MOS管用作电容器时 两端器件 作业 2.24 斜视图(bird’s eye ,angled view) 俯视图(vertical view) 栅接触孔为什么开在沟道区外? 希望源漏寄生电容小! Why?? C3、C4:覆盖电容;不能简单等于WLDCOX(边缘电力线) C5、C6:结电容=底电容+侧壁电容 折叠结构的版图漏端寄生电容小 简化模型——开关 由VG控制的一个开关 提供载流子的端口为源,收集载流子的端口为漏 源漏在物理结构上是完全对称的,靠什么区分开? Bulk(body
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