关于晶体管输出,达灵顿输出,可控硅输出,高速光耦,施密特输出光耦测试方法以及测试结果判定标准.doc

关于晶体管输出，达灵顿输出，可控硅输出，高速光耦，施密特输出光耦测试方法以及测试结果判定标准 设备简介 使用万用表需要注意：测电流红色表笔就要插入mA孔， 测电压红色表笔就要插入VΩHz孔， 黑笔一直插COM孔 设备： 测试座 （用以搭载被测材料） 信号发生器 （用以提供所需的电压与电流信号） 万用表 （用以检测相关参数） 测试线若干 （连接上述设备） 测试相关步骤： 确定被测光耦类型 测试线连接 参数设定 进行测试 判定材料是否OK 测试常识：给电流测电压，给电压测电流 晶体管输出光耦 4N25-4N38系列（注意4N29-33系列为达灵顿输出，请参照下一篇），MOC8106，MOC8204，（H11AA1，H11AA4交流输入） 1. 确定被测光耦类型 晶体管输出光耦主要测试CTR，他的内部原理图如下图所示，因此我们需要给他输入端一个电流，再测输出端的电流（需要在输出端加一个电压） 2. 测试线连接 在测试线连接之前，我们要知道他的测试原理图，晶体管输出光耦测试原理图如下： 电流源 电压源 万用表 实际连线： 为了方便说明，前面有对各个接口进行标明： 信号发生器：一、二、三、四、五 测试座：1、2、3、4、5、6、7、8 万用表：红笔、黑笔 上述连线说明： 二 连 1 一 连 2 六 连 红笔 黑笔 连 7 四 连 6 3.参数设定 信号发生器：左通道 10mA，右通道 5V 万用表：直流200mA 档位 4.进行测试 放入材料，反向放置，小圆孔朝上 判定标准 以厂商的CTR为标准进行判定，进行简单换算就可以知道，万用表上显示是多少mA时材料是OK的，下面是4NXX系列的CTR表，因为CTR=IC（万用表上的电流）/IF*100%，所以IC=CTR*IF IC 最小值，大于此值为OK 10 mA 5 mA 3 mA 2 mA 1 mA 实例： 下面是4N37的实际测量图从下图我们可以看出，在输入电流IF=10mA的情况下，输出电流IC=15.33mA 10mA，所以判定为OK， 如果有兴趣可以算下他的CTR=IC/IF*100%=15.33/10*100%= 153.3 % 达灵顿输出光耦 4N29-4N33系列，H11B1，H11G1，H11G2，MOC8021， MOC8050 达灵顿输出光耦与晶体管输出光耦测试基本一致，具体接线图完全参照上面的晶体管输出光耦连线方式，不同的是他的测试参数设置不同，由下图我们可以看出，4N32和4N33在IF=10mA时他的IC最少能在50mA以上，CTR最小值都为500，实测他的CTR一般在2000以上。 由于我们的信号发生器最多只能输出50mA的电流，所以我对上面的条件进行修改，故判断标准也随之而变，具体输入条件个判断标准以下面的为准。 步骤同晶体管输出光耦 步骤同晶体管输出光耦 3. 参数设定 信号发生器：左通道 1 mA，右通道5V 万用表：直流200mA档位 进行测试 5.判断标准 型号 CTR IC 最小值，大于此值为OK 4N32，4N33 500 5 mA 4N29，4N30 100 1 mA 4N31 50 0.5 mA 实例： 下面是测试4N33的示意图，我们可以看出 他的CTR=21.5/1*100%=2150 500为OK 品 看电流的话也很明显看出 IC=215.mA 5mA为OK 可控硅输出光耦 MOC30XX系列，比如MOC3021，MOC3023，MOC3052，MOC3063，MOC3081 确定被测光耦类型 双向可控硅输出光耦主要测试触发电流IFT，和VDRM，由于条件有限我们只测试纸测试在在他的IFT出是否能使光耦正常开启。因此我们需要测试他输出端在有一定电流时的电压值。 测试线连接 测试原理图： 实际连线： 上述连线说明： 1. 二 连 1 2. 一 连 2 3. 五 连 8 4. 四 连 6 5. 红笔 连 8 6. 黑笔 连 6 3. 参数设定 信号发生器：左通道 IFT （5mA或10mA或15mA），右通道10mA 万用表：直流20V档位 4. 进行测试 放入材料 判定标准 可控硅输出光耦是看输出端电压的变化，在IFT下，为导通，故电压较低为1-2V左右。 型号 左通道输入 IFT 万用表上面 电压 MOC30X1 15 mA 小于3V MOC30X2 10 mA 小于3V