原子力显微镜在多糖研究中的应用进展.PDF

264 2005, Vol. 26, No. 4 食品科学 专题论述 原子力显微镜在多糖研究中的应用进展 李 斌 (华中农业大学食品科技学院 湖北 武汉 430070) 摘 要 全面综述了国内外利用原子力显微镜对多糖及其衍生物所开展的研究 简单说明了原子力显微镜的基本 原理及应用中存在的问题 关键词 原子力显微镜 多糖 进展 LI Bin Abstract Key wordsatomic force microscopepolysaccharideadvance 中图分类号TS207.3 文献标识码A 文章编号 高分子多糖具有纳米级的空间尺度 光学显微镜以 象几乎不受什么局限 利用原子力显微镜所观察的图像 及电子显微镜均无法在纳米水平上研究高分子多糖的动 比STM更易于解释 原因在于力的等高图比密度的等 态过程 对其研究需要发展空间分辨率是纳米量级(或 高图更加忠实于表面实际形态 更小) 同时时间分辨率是毫秒量级的新的技术 用这 1.1 成像原理[2][10] 些技术对天然高分子样品进行观测和控制 就可以再一 13 基于原子间振动频率 一般近于或大于10Hz原 次扩大人们的视野 使天然高分子的研究进到一个动态 -25 2 子质量m为10kg量级 原子间作用力弹性常数k= m 的纳米水平中 可计算出k的量级为10N/m因此若使用弹性常数低于 扫描探针显微镜就是在这样的条件下孕育而生的 原子间弹性常数一个量级的探针悬臂 使其针尖与样品 它是指利用扫描探针的显微技术 常用的有扫描隧道显 表面原子相互作用 反馈控制系统通过压电晶体管移动 微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)STM观测的样品要 样品并控制样品和探针的作用力恒定 利用光学检测法 有导电性[9] 用AFM就没有这种要求 1986年Binnig或隧道电流检测法 就可分辨出埃量级位移 并对样 [10] G et al(1986)发明了第一台AFM 在样品导电性方面 品表面进行成象 从而得到原子级形貌图像 弥补了STM的不足 它不仅能给出样品的表面形貌 将一个对微弱力极其敏感的微悬臂的一端与压电陶 而且可得到样品表面在垂直方向的绝对高度 瓷固定在一起 另一端有一微小针尖 当针尖与样品 轻轻接触(即接近至原子级间距) 针尖与样品表面原子 1 原子力显微镜的成像原理及成像环境 -8 -6 存在极其微弱的排斥力(1010N/nm)通过扫描时控 1985年 Binning在没有真空的条件下获得了第一 制这种力的恒定 带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样 张天然高分子的图像 在这以后出现了许多同STM技 品表面的原子间作用力的等势面在垂直于样品表面的方 术相似的扫描探针显微镜 它们不是采用物镜来成像 向起伏运动 在微悬臂针尖的上方有一个STM的装置 而是采用尖锐的传感器探针 在表面上方扫描来检测样