利用分光光度计测量光学晶体的折射率.pdfVIP

第32卷第12期 中 国 激 光 V01．32，No．12 2005年12月 CHINESE OFLASERS December，2005 JOURNAL 文章编号：0258—7025(2005)12—1678一05 利用分光光度计测量光学晶体的折射率 谭天亚1’2，易 葵1，邵建达1，范正修1 ，1中国科学院上海光学精密机械研究所光学薄膜技术研发中心，上海201800、 ＼ 2中国科学院研究生院，北京100039 ／ 摘要 晶体折射率的准确测定是晶体上薄膜器件设计的基础。介绍了利用分光光度计测量晶体折射率的方法，通 过背面影响系数法、背面镀增透膜和将两者结合起来的方法消除晶体反射率测量时背面反射带来的影响，给出了 具体的步骤并对测量误差进行了分析。由于晶体的光学各向异性，采用起偏器扫描的方法测量晶体光学性质随方 向的变化。通过对LiB305晶体