用电光采样法测量相对论电子束团长度.pdfVIP

第20卷第2期 强 激 光 与 粒 子 束 V01．20，No．2 HIGH LASERPARTICLEBEAMS 2008年2月 POWER AND Feb．，2008 文章编号：1001—4322(2008)02—0349—04 用电光采样法测量相对论电子束团长度。 孙大睿， 徐金强， 唐 坤 (中国科学院高能物理研究所，北京100049) 摘要：介绍了电光采样法测量电子束束团长度的实验原理和装置，理论分析并模拟计算了被测电子束 团库仑场分布、ZnTe晶体的电光效应与束团电场的关系，并利用琼斯矩阵法分析了探测光通过电光晶体时在 束团电场作用下的偏振变化、测量信号与束团长度的关系等。分析表明：测量中应使束团库仑场垂直于ZnTe 的[001]方向，探测光偏振方向与ZnTe晶体／轴成45。或者135。夹角，1／4波片快轴与探测光偏振方向夹角应 取45。，这时平衡探测器输出信号与束团库仑场Eb成正比。1／4波片的作用是将电光晶体的工作点从非线性 段移到线性段，平衡探测的作用是简化信号与E的关系，并提高信噪比．为实际测量应用提供参考。 关键词： 电光采样，强流相对论电子束；束团长度；库仑场；琼斯矩阵 中图分类号：0532；’0436．1文献标识码：A 高能量正负电子对撞机、X射线自由电子激光(XFEL)以及先进的同步光源等技术的发展，对相对论电子 束团性能的要求不断提高，亚皮秒量级的超短脉冲强流相对论电子束团成为新的发展方向。于是，超短脉冲强 流束团诊断成为先进加速器新发展的关键技术之一，电子束团长度的测量是其中重要部分。 测量相对论电子束团长度的方法有条纹相机法、相干辐射法、电光采样(EOS)法等。高分辨率的条纹相机 且不能实现实时测量，因此都存在一定局限。电光采样法是一种非侵入测量法，通过测量电子束库仑场分布实 现束团长度测量，能够在几ps内完成测量，因此可以实现实时监测[1]。采用不同的探测方法，由电光采样法衍 生出了光谱法、互相关法等测量方法，分辨率得到提高，并可以实现单脉冲测量协¨。因此，电光采样测量法具 有非破坏性、非侵人性、实时监测、高分辨率等特点，是一种有潜力的束团长度测量方法。 1 电光采样法测量束团长度的原理 相对论电子束团的库仑场主要集中在其运动的 垂直方向上，沿运动方向的电场可以忽略不计，电光 采样法是通过测量束团垂直方向库仑场的分布来确 定电子束团的长度和电子分布的。实验装置见图 1，线偏振光依次通过电光晶体ZnTe，1／4波片(1／4 ZnTe 2／4 bunch Fig．1Measurementofelectronlengthbyelectro-opticsampling 波片也可以放置在ZnTe晶体前面)和渥拉斯顿棱 图1 电光采样法测量电子束团长度装置图 镜，分为偏振方向相互垂直的两束，用平衡探测器接 收，得到二者的光强差。当没有外加电场作用时，电光晶体表现为各向同性，通过晶体的线偏光保持偏振态不 变，经过1／4波片后变为圆偏光，因此平衡探测器的信号为零。当与探测光平行运动的电子束团经过ZnTe晶 体上方时，电光晶体在束团库仑场作用下产生电光效应，表现为双折射晶体，此时通过晶体的线偏振光变成椭 圆偏光，经过1／4波片调整偏振态，平衡探测器测得的光强差信号反映了束团电场的强度。利用激光脉冲扫描 电子束团，探测束团库仑场的分布，由此确定束团长度。 2 电光采样法测量束团长度理论分析和模拟计算 2．1 电子束团的库仑场分布 根据电动力学，能量为y的电子沿z轴运动，在距离z轴为b处且垂直于z的库仑场E。在：方向的分布 ·收稿日期：2007-06-15I 修订日期：2007--09—04 基金项目：国家自然科学基金资助课题 作者简介：孙大睿(1977一)，女，助理研究员，主要从事