晶圆允收测试系统.PPT

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晶圆允收测试系统

晶圓允收測試系統- 指導老師:黃貞芬 老師 專題組員:黃育宇   魏志軒 平震宇 大綱 開發背景與研究動機 系統特色 系統線上運作模式 功能架構 系統展示 未來展望 特別感謝 開發背景與研究動機 晶圓允收測試 何謂Wafer Acceptance Test? 為何要WAT? 品質確保 等級分派 報告製作 Delphi的單機AP 開發工具版本差異過大 須先安裝Oracle Client及相關驅動程式 系統特色 以Java Applet製作 具有單機JAVA AP開發上及使用上彈性 內嵌於網頁-解決傳統AP需要安裝設定的缺點 使用Client端資源-降低伺服器的負擔 建立用戶端暫存資料庫 減少資料庫伺服器的重複性Loading 同批資料使用暫存資料庫繪圖-不必重新下載 整合使用者提出之需求 系統線上運作模式 功能架構 系統展示 主要展示功能 WAT SPC WAT Report Alarm-Setting Chart 未來展望-improvement 下載資料速度過慢 原始Delphi AP: Paradox資料庫元件 WebWAT System: Windows內建ODBC驅動 使用方式: JDBC-to-ODBC Driver 15000筆資料: 3秒 VS 10秒 須確保暫存資料庫(.mdb)的存在 ODBC Access Driver限制 其他ODBC使用限制 ex: dBase 特別感謝 黃貞芬老師 立生半導體資訊管理部門 楊經理 蕭課長 MIS人員 光廷、玟杰學長 * * 以立生半導體股份有限公司為例

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