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犘波段微波注入反相器模数转换电路的响应-强激光与粒子束
第 卷第 期 强 激 光 与 粒 子 束 ,
23 3 Vol.23 No.3
年 月 ,
2011 3 HIGH POWERLASERANDPARTICLEBEAMS Mar. 2011
文章编号: ( )
10014322201103074906
犘波段微波注入反相器模数转换电路的响应
朱占平, 钱宝良, 王弘刚, 赵素波
(国防科学技术大学 光电科学与工程学院,长沙 410073)
摘 要: 利用设计的三反相器模数(/)转换电路,开展了 波段微波注入实验。采用眼图观测法对电
A D P
路的线性响应进行了有效测量,推导了实验线路中微波注入效率公式,利用一种实时温度检测电路来验证芯片
工作状态的稳定性,并利用统计检验的方法分析了不同芯片及电路板等对实验数据获取的影响,从而保证了实
验的有效性和可信度。重点研究了注入微波的幅值、频率、脉宽及重复频率等参数对反相器正常工作的影响。
实验结果表明:当注入微波信号脉宽大于 70ns时,电路信号在微波脉冲结束后,相邻脉冲脉宽变化 10%的非
线性干扰功率阈值,比使电路信号噪声容限降低 50%的功率阈值大4 6dB,电路信号脉宽变化 30%的功率阈
~
值比脉宽变化 10%的大2 3dB,在功率小于32dBm的实验中得到的最大非线性干扰为脉宽变化约40%。非
~
线性干扰阈值随注入微波信号脉宽变化明显,拐点为 40 70ns。注入微波的重复频率对微波干扰阈值影响很
~
小。
关键词: 波段; 注入实验; 线性干扰; 统计检验; / 转换电路
P A D
中图分类号: 文献标志码: : /
A 犱狅犻10.3788HPLP0749
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19
微波对电子系统具有干扰、损伤等效应,已为国内外研究所证实 ,并在实验中得到了重要损伤规律,目
前逐渐成为该领域的重点研究对象之一。低功率注入实验是微波效应研究的重要方法,国内外已广泛开展了
注入效应实验研究[1022]。数字电路的发展表明,互补型金属氧化物半导体( )器件为当前和近年内的主
CMOS
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